以隔離方式解決差動式量測誤差的常見來源

傳統的差動式探棒由於其共模互斥比、頻率降額、頻率響應和探棒長輸入引線中的各種限制，通常無法為實際訊號提供良好的表示。當在具有快速切換速率和甚至標稱共模電壓的功率裝置上進行測試時，這些限制將更為顯著。

本文章將會檢查這些量測誤差來源，並探討如 Tektronix IsoVu 量測系統等隔離解決方案如何克服這些限制。