吉時利自動化特性分析套件 (ACS) 軟體

Keithley 的自動化特性分析套件 (ACS) 是一個彈性靈活的互動式軟體測試環境,針對裝置特性分析、參數測試、可靠度測試,甚至是簡單的功能測試所設計。ACS 支援各種 Keithley 儀器和系統、硬體組態及測試設定,從一些用於品保實驗室的桌上型儀器,到完全整合與自動化的以機架為基礎參數測試儀。有了 ACS,使用者便已準備就緒並能夠快速執行測試,無須具備程式設計知識。

 

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基本價格
US $6,660 - US $17,500
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吉時利自動化特性分析套件 (ACS) 軟體

可靈活設定特性分析應用的程式設計偏好

ACS 具有指令檔編輯器,這是一個獨立的工具,具有圖形使用者介面,可供開發 Python 程式碼與 TSP® 指令檔,以執行儀器控制、資料分析及系統自動化。其能讓使用者以直覺的方式建立與開發 GUI 設計,及管理使用者資料庫與模組。

自動進行資料收集程序

ACS 的晶片探棒自動化選項,能夠將各種常用的半自動或全自動化晶片探測站,輕鬆地接合到測試設定,以快速擷取大量資料。此選項包括晶片說明公用程式、具備分割分析的即時晶片映射、卡位取樣方案規劃公用程式,以及測試後卡位與晶片審查公用程式。許多內建在 ACS 的工具與功能,可增強自動裝置的特性分析。

分享測試專案與結果

ACS 提供一組可用於各種硬體組態的常用重要元件,能夠縮短時間並提升產能。系統在不同的硬體實作之間轉移時,皆有一致的效能,因此舉例來說,能夠將您對於用於單一裝置元件特性分析的以 ACS 為基礎系統知識,輕鬆地轉移到為晶片位準測試設計的系統。

充分發揮 Keithley 硬體的生產力

ACS 中的工具可簡化測試開發,並加快每個連結至此系統的 Keithley 儀器速度。ACS 與 Keithley 以 TSP 為基礎的硬體搭配在一起時,能夠提供業界最高的輸送量,因此可降低成本,而且無須花時間學習新的程式設計概念或語言,就能取得達成目標所需的資料。

機型 說明 參考價格
ACS-BASIC

ACS 基本版主要用於利用手動探測站或測試治具進行半導體組件測試。利用「追蹤模式」以互動方式快速執行初始裝置特性分析化。或者,使用 GUI 式設定畫面和廣泛的量測資料庫,建立詳細的參數擷取測試。

US $6,660
配置和報價
ACS.

ACS 支援廣泛的半自動和全自動探棒,對整個晶片進行半導體裝置量測。 或者,以互動方式控制探棒,測試個別裝置。 執行期間利用個別裝置結果和多重裝置統計資料監控測試進度。

US $17,500
配置和報價

從實驗室到晶圓廠的應用

以 ACS 為基礎的「整合測試系統」是完整的解決方案,適用於如參數晶粒分類、高功率半導體元件特性分析,及晶片位準可靠度測試等應用。當與合適的半自動與全自動探測站搭配時,其硬體組態與測試專案開發能夠針對特定的任務最佳化。

GaN HEMT I-V 特性分析的供電排序

GaN HEMT 具有「通常開啟」的特性,因此在 I-V 特性分析期間需要特定的供電順序。ACS 軟體支援裝置 GaN HEMT 特性分析的供電順序,擷取其固有的 I-V 特性時不會傷害裝置。

GaN HEMT 特性分析的供電順序應用注意事項

應用在整個半導體工作流程

ACS Basic Edition 與 ACS Standard Edition 軟體皆用於整個半導體工作流程中,以執行半導體裝置詳細特性分析的各種測試。ACS Basic 與 ACS Standard 整合式系統提供:

  • 裝置、晶片與卡式位準的測試
  • 彈性的設定方式,以及可自訂的軟體與應用程式
  • 互動式且自動化的系統操作
  • GUI 與指令檔工具的強大組合可供開發測試模組之用

開發階段

ACS Basic Edition 軟體已針對元件和離散 (封裝) 半導體裝置的參數測試最佳化。此軟體具有以下重要功能,能夠提高研發技術人員與工程師的生產力:

  • 針對封裝的裝置 (MOSFET、BJT、IGBT、二極體、電阻等) 設計
  • 提供一組豐富的測試庫,可快速輕鬆地測試設定與執行,無須程式設計
  • 內建的資料分析工具,可快速分析參數資料
  • 支援 Keithley 的 2600B 系列 (非 2604B、2614B 或 2634B)、2400 系列、2651A 及 2657A 系列 SourceMeter SMU 儀器

整合階段

ACS Standard Edition 軟體用於半自動晶片測試的整合階段,包括穩健的程序開發與晶片位準可靠度 (WLR)。此軟體可用於 SMU 每個接腳系統位準測試。ACS WLR 軟體具有以下優點:

  • 全自動功能,可測試個別的晶片或整個卡位
  • 可彈性設定測試與進行平行測試的軟體
  • 可靠度測試模組 (RTM) 與 JEDEC 標準測試方法相容
  • 支援建立自訂的測試模組/程序

生產階段

ACS Standard Edition 軟體也用於完全整合及自動化的以機架為基礎參數測試儀,以用於製程控制監控 (PCM)、晶片驗收測試 (WAT) 及晶粒分類。許多內建在 ACS Standard 軟體的工具與功能可增強 自動裝置的特性分析:

  • 晶片位準與卡式位準自動化
  • 測試映射對映射裝置及對站點和子站點的測試
  • 互動式探測站控制模式
  • 單一或各個晶片 Keithley 資料檔案
配件 ACS-2600-RTM
產品規格表 說明
ACS 可靠度測試選項
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