相干性光學

相干性光學

 

自動進行相干性光學裝置的最佳化和測試

由於不斷增加的數位資訊需求,全球各地的資料中心數量正在迅速增長。每一年 IP 流量都以超過 20% 的速率在增加,因此必須要持續創新網路技術才能滿足消費者和企業的需要。

新一代城域資料中心互連解決方案的目的是要將符號速率加倍,以降低每位元、機架和能源消耗的成本,而不必大量投資基礎結構。那我們需要什麼?我們需要端對端的相干性測試解決方案,其必須經過完整校驗並能夠自動控制和校驗多個光調變分析儀 (OMA),以減少量測錯誤並加快產品設計週期。

避免等化試誤方法

為了對相干性光學發射器進行微調以獲得最佳效能,您必須知道脈衝響應資訊。由於許多解決方案都是根據試誤方法來調整等化,因此根據裝置的特性來進行調整可節省時間並獲得更好的效能。

Tektronix 提供端對端的自動化相干性光學裝置最佳化和測試解決方案,可依據測試的特性來分析裝置,並提供最可能的設定參數以在最短時間內提供最高效能和最佳良率。

自動降低校驗時間並精確量測

針對多個光調變分析儀的測試系統進行多通道研究充滿了挑戰與困難。同步化和相位相干性擷取至關重要,但可能會受到外部和內部因素所影響。量測相干性光學系統的關鍵在於能夠修正和調整這些因素,以提供已知且可重複的乾淨測試訊號。

Tektronix OMA 軟體會自動控制並完整校驗多個 OMA 系統,以減少量測錯誤,進而增加分析的可信度。

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複雜調變光訊號的自動誤碼率量測

所有數位通訊系統的共同點是都需要分析誤碼率 (BER) 的特性。在本應用摘要中,您將瞭解 Tektronix OM4106D 相干光波訊號分析儀如何可存取完整變數,以分析光纖上的複雜光學訊號的特性。

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下載手冊、產品規格表、軟體等等:

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