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Serial Communications

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On the Bleeding Edge: Tektronix Logic Analyzers Enable Tundra Semiconductor to Develop First RapidIO Switches and Get to Market Faster
Challenge: Design, verify and debug the industry’s first silicon switches supporting parallel and serial RapidIO® Solution: Tektronix TLA7000 Series logic analyzer with TMS805 RapidIO application su...
Reducing EMI in USB 2.0
How PulseCore Semiconductor turns to Tektronix USB Test Solution to Develop a new IC that enables USB applications to reduce the peak-power USB 2.0 radiated EMI, maintain an unchanged signal integrity...
RC4 Wireless Lights It Up with Tektronix MSO2000 Series
James Smith at RC4 develops custom wireless dimming and control products, for high-profile clients like Cirque du Soleil and Disney. Find out how James used the MSO2024 to shave hours off troubleshoot...
PCI ExpressTM 量測應用摘要簡介
This primer deals with all aspects of PCI Express testing including validation, debug, and compliance as well as basic principles, measurement techniques, and the tools needed to insure successful des...
SONET 電訊標準入門手冊
何謂 SONET?本文件提供同步光纖網路 (SONET) 標準簡介。電信領域的標準一直在演進。此 SONET 入門手冊內的資訊,是以 Bellcore 和 ITU-T 標準組織所提供的最新資訊為基礎。此入門手冊簡介 SONET技術。若需更詳細的資訊,請查看 Bellcore 和 ITU-T 提供的最新文件,請特別注意最新的日期。若需瞭解 SONET 電信語言的協助,請參閱列於本文件最後內容廣泛的「...
SDH Telecommunications Standard Primer
Logic Analyzer Fundamentals
Like so many electronic test and measurement tools, a logic analyzer is a solution to a particular class of problems. It is a versatile tool that can help you with digital hardware debug, design veri...
Complex UWB Signal Generation using Advanced Waveform Editing Tools
New RF transmission systems, like UBW-WiMedia, are proliferating. This is causing engineers to look for better ways to simulate intricate RF signal behaviors and interactions. At the same time, a push...
Eye Measurements on Optical RZ Signals
This technical brief describes several automatic eye measurements for RZ signals contained in Tektronix' DSA8200 sampling oscilloscope. Examples of real signals are presented, as well as guidelines to...
Overcoming a wide array of UWB test challenges: Part 2
Overcoming a wide array of UWB test challenges: Part 1
Solving the Complexity of DigRF Testing
No matter what stage of the development you are involved in, when it comes to RF test equipment, flexibility is the key. Test equipment needs to be flexible enough to go beyond just verifying that the...
Smiths Detection Relies on Tektronix to Take the Trouble out of Troubleshooting
A team of engineers at Smith Detection needed to quickly, efficiently and accurately identify and resolve problems during the development of complex handheld devices. Learn how Smith Detection enginee...
RapidIO Architecture: Building the Next-Generation Networking Infrastructure
RapidIO®, a high-performance, packet-switched bus technology, delivers the bandwidth, software independence, fault tolerance and low latency needed for the design of next-generation networking equipme...
Using Tektronix AWG7000 Series in Synchronous Applications
Synchronous test systems are becoming more important in many applications and being able reduce any uncertainty of when a trigger is sent, to when the signals are outputted is challenging for any syst...
Fluke/Tektronix Solutions Brochure
Fluke and Tektronix solutions for electronic design,manufacturing and service professionalsProfessionals designing the next award winning electronic products or manufacturing100 % defect-free electron...
Measurement, Debug and Analysis for Embedded Automotive Designs
Whether you’re designing a system to simply adjust a mirror, or one to monitor and control a parallel hybrid power system, embedded systems technologies play a role. The use of embedded devices and t...
SuperSpeed USB/PCIe Gen 3 相容性測試與驗證(英)
Tektronix 支援各種 SuperSpeed USB/PCIe Gen 3和相容性測試方法。 
克服 PCI-Express 實體層挑戰
本文將介紹如何使用 Tektronix 邏輯通訊協定分析儀的強大觸發和多個資料檢視等功能來克服這些挑戰。
使用 Tektronix 邏輯通訊協定分析儀執行 PCI Express 電源狀態管理驗證和除錯
這些解決方案提供了足以擷取、顯示及分析最複雜的串列訊號之效能。
示波器和頻譜分析儀上的 10GBASE-T 線性度量測相關性
閱讀有關透過無混附訊號動態範圍,在最近進行的量測中,發射器線性度上的 DAC 純度結果 (在輸出中使用)
SDH 電訊標準入門手冊
SDH (同步數位體系) 是由國際電信聯盟 (ITU,舊稱為國際電報電話諮詢委員會 (CCITT)) 制定的電信傳輸標準。SDH 在1992年首次引入電信網路,從那時起便一直快速進行部署。SDH 部署在各級網路基礎設施,包括存取網路和長距離幹線網,是以將同步多工訊號重疊到在光纖電纜上傳輸的光流為基礎。SDH 也被定義為用於無線電中繼連結、衛星連結及設備之間的電氣介面。全方位的 SDH 標準語其至少...
SDH Telecommunications Standard Primer
SDH (Synchronous Digital Hierarchy) is a standard for telecommunications transport formulated by the International Telecommunication Union (ITU), previously called the International Telegraph and Tele...
串列通訊測試解決方案
串列資料匯流排提供聯網、互連和通訊功能,能透過業界認可的介面連接電腦和嵌入式裝置。Tektronix 為各種標準提供強大完善的測試儀器產 品組合,這些標準包括:USB、PCI Express、乙太網路、CAN/LIN/FlexRay、I2、I2S、MIPI 等等。
尋找 PCIE 流量控制錯誤
本白皮書詳細介紹了如何使用鳥瞰圖 (BEV) 來調查流量控制,這是一個全新的視覺化效果。BEV 不僅提供追蹤的完整擷取視圖,還提供了新的分析供能,此功能僅可用於 Tektronix 邏輯協議分析儀。
接收器測試解決方案應用規格摘要表
接收器測試是需要練習和分析新興設備特性的設計人員所面臨的最大挑戰之一。此規格摘要表提供了 Tektronix 接收器測試解決方案。
利用整合式邏輯分析儀及示波器,快速進行訊號完整性疑難排解應用摘要
快速的產品開發需要迅速又有效率的訊號完整性問題疑難排除。數位系統設計師於其設計內追求更先進的時脈與資料速率時,訊號完整性已先一步的發展了。為確認訊號的完整性,需在傳輸環境中瞭解並控制阻抗。不符合及異常的訊號,均會導致降低整個訊號品質的反應。本應用摘要能協助您迎接快速邊緣訊號完整性挑戰。
建立校準的 UWB WiMedia 訊號
若要維持整個頻帶中的訊號完整性,則預失真波形即成為必要的程序,因此需要校準整個系統。本應用摘要詳述在應用 UWB 訊號產生時,訊號路徑校驗所需的步驟,UWB 訊號可利用直接 RF 訊號產生,或以上變頻器的 IF 訊號產生。此處將展示相關的解決方案,如 AWG 系列任意波形產生器搭配 RFXpress 軟體工具。
跨匯流排分析揭露相互作用和加速疑難排解
跨匯流排分析已成為不可或缺的疑難排解方法。此應用摘要探討了 Tektronix 新的強大邏輯分析解決方案,如何加速您的跨匯流排疑難排解需求
使用 AWG 和直接合成技術克服高速串列 DataRX 測試挑戰應用摘要
基於今日各種消費性產品中常見的數位資料,在設計與測試這些熱門裝置時,高速串列資料測試是最大的挑戰之一。製造商與設計人員必須測試產品與設計,確保最終的產品能夠應付真實世界的狀況。本應用摘要著重討論 DisplayPort,但其中技術仍適用於 PCI Express、SATA 和 HDMI 等許多其他標準。
簡化 USB 3.0 設計的認證和除錯
本應用摘要將介紹通用序列匯流排 (USB) 標準的演進和已經開發的測試方法,以適應這種常見通訊標準不斷增加的速度和複雜性。
簡化CAN與LIN車內網路測試
此應用摘要說明 CAN 及 LIN 通訊協定的基礎觀念,並介紹 DPO7000 系列以及整合的 CAN 特定觸發功、TDSVNM CAN 及 LIN時序與通訊協定解碼軟體之 LSA 選項,說明他們如何處理車內網路未達客戶要求的除錯及測試問題。
高效能通訊應用的自動量測演算法和方法
本應用摘要包含 CSA/TDS8000 系列演算法的詳細資訊,並說明其用途以產生並執行自動量測、強調眼狀圖中多值資料的分析。
使用即時示波器分析 8b/10b 編碼訊號
本應用摘要討論了使用 Tektronix MSO/DPO/DSA70000 系列示波器來疑難排解與校驗配備 8b/10b 串列匯流排的裝置,此示波器擁有強大的 8b/10b 串列匯流排即時觸發功能。
利用 FrameScanTM™ 擷取技術尋找和檢查碼型相關的故障
隨著位元速率提高到 10 Gbps  (和以上),在各種資料和通訊產品及系統的產生、傳輸及接收訊號中碼型相關的故障將變得更常見。不幸的是,傳統的測試技術已經難以可靠地識別並觀察這些故障,而且極為耗時。利用 DSA8200 取樣示波器中的 FrameScanTM™ 擷取技術,您便能快速、可靠地找出和研究這些碼型相關的故障。本示波器支援自動擷取連續的各個位元  (如果需要,則是完整的資料框架),可協助...
使用 Tektronix 通訊協定分析儀執行 PCI Express 探測解決方案
本白皮書討論如何確保正確的電路板設計和佈局,以使用 Tektronix PCIe 通訊協定分析儀進行數位除錯和驗證。
邏輯分析儀觸發技術可擷取難以偵測的問題
對於需要驗證和除錯產品設計的數位電路設計者而言,邏輯分析儀提供了突破性的觸發功能,可擷取即時數位系統操作。本應用摘要說明如何利用邏輯分析儀觸發跟上您的設計時程,並透過掌握捉摸不定的問題,提升您的設計品質與驗證您的設計實作。快速找出捉摸不定問題的效率解決方案。
適用於 10GBASE-T 的實體層相容性測試
10GBASE-T 乙太網路為設計和測試引入了全新的挑戰。本應用摘要介紹可為 10GBASE-T 設計驗證提供正確和最佳電子測試的工具。
開發具經濟效益之通訊的內嵌式設計技術
隨著嵌入式系統設計變得更加智慧且連接性更高,這些裝置的通訊連接也就越來越重要。同時,終端使用者的可攜性、更長電池使用壽命與低價限制,讓尋找提供可靠通訊的成本效益工具,也變得更加關鍵。有線介面  (如 USB 與乙太網路) 常見於許多嵌入式設計,並在許多應用中充分發揮至標準的極限。而可攜式電池供電裝置的吸引力也讓使用者對更節能的無線連接的需求日益增加。本應用摘要介紹了3個利用特定量測技術的明確應用,...
您如何將 Tektronix 高效能示波器發揮的淋漓盡致?
瞭解示波器的重要訊號擷取和可用性功能,以實現更快的結果。此應用摘要將說明一些 DPO7000 和 DPO/DSA70000B 的功能,協助您解決訊號完整性的挑戰,並加速您的日常工作。本摘要將著重於高效的控制和快捷鍵、操作儀器控制時的選擇、解決波形可視化時獲得更快速的結果、驗證和除錯任務等。
使用 MSO/DPO4000B 系列示波器 TCP/IPv4 和乙太網路 10BASE-T/100BASE-TX 除錯
本應用摘要概述了 Internet 通訊協定套件和每一層的操作原理,其總結則討論了利用具有 DPO4ENET 的 MSO/DPO4000B 來搭配使用乙太網路 10BASE-T 和 100BASE-TX 訊號。
TekExpress 軟體和 MIPI® 實體層和通訊協定層測試
利用 Tektronix TekExpress 軟體和示波器來瞭解和執行 MIPI®D-PHY 實體層、CSI 和 DSI 通訊協定層測試。
10-Gb/s 系統的高可靠性測試 (STM-64/OC-192)
滿足日益成長的頻寬需求Internet、電子商務、虛擬專用網、IP 電話和其他以資料為中心的應用的發展,正不斷促使增加頻寬的需求。為了跟上發展的步伐,網路供應商正被迫從 2.5 Gb/s 快速移動到 10 Gb/s 的系統部署。隨著此技術的組件價格不斷下降,以及 10 Gb/s 技術可靠性增加,這樣的趨勢只會繼續強化。從 2.5 Gb/s 移動到 10 Gb/s 的系統涉及許多新因素,使過渡成為極...
磁碟驅動器設計的量測解決方案
此應用摘要說明六個與磁碟設計通用領域相關的許多量測技術。提供一些現代儀器及技術的摘要,包括適用於探測、擷取及分析磁碟機系統中所找到的電子訊號的儀器及技術。Tektronix 的全面高效能探棒、示波器、任意波形產生器和邏輯分析儀的組合將協同工作,以提供完整的磁碟機量測解決方案。
Title
High Speed Serial Data Receiver Testing Webinar
This webinar discusses the challenges in generating signals with increasing speeds for the latest serial standards and for thoroughly testing any receiver with "real world" or "worst case" conditions....
Solutions to Embedded System Design Challenges Webinar
In this tutorial we will examine ways to improve productivity in embedded system validation and debug. Part I focuses on what can be done in the early design cycle to improve productivity. Part II hig...
Ultra-Wideband Technology and Test Solutions Including WiMedia Webinar
WiMedia UWB is a rapidly growing technology that promises to revolutionize low power, short range wireless applications. It has quickly emerged as a leading technology for applications such as wireles...
Jitter Fundamentals
View this recorded webinar to get a solid overview of jitter components as well as jitter characterization and visualization. Learn how to control Jitter during system design and improve timing margin...
Title
PCI Express 3.0 移除實作方法 1.0 版
本文件提供了從 PCI Express Gen 3 測試通道提取 S 參數的逐步過程,以便可用於根據 PCI Express Gen 3 要求去除來自發射器量測的影響。
適用於 CEM 規格的 PCI Express 3.0 接收器測試 MOI
本文件涵蓋使用 BERTScope 儀器進行 PCI Express 3.0 CEM 接收器測試的實作方法 (MOI)。文件包括所需的硬體、設備設置、壓力校準和測試程序的逐步說明。附註:本文撰寫時,由 PCISIG 建議的 CEM 接收器測試程序尚未完成。請定期查看本 MOI 的更新。
MIPI D-PHY 測試實作方法 (MOI)
概覽:這種測試選擇的驗證了 D-PHY* 產品的各種電氣特性要求 (定義於 D-PHY* 規範第 8 節,第 0.9 版)。Group 1 (8.1.x) 驗證高速發射器 AC 和 DC 規格 (摘要說明於第 8 節表 16 和 17)。Group 2 (8.2.x) 則驗證低功率發射器交流和直流參數 (摘要說明於第 8 節表 18 和 19)。
MIPI® M-PHY 實作方法
本文件包含 MIPI® M-PHY* 量測和安裝程序庫實作方法 (MOI),進行驗證、除錯、特性分析、相容性和互通性測試
10BASE-T 實作方法 (MOI)
Tektronix 測試實作方法本 Tektronix 指南量測文件依「原樣」提供,不含明示或暗示的保固,包括 (但不限於) 任何明示或暗示無侵犯性保固、適銷性或特定用途的適當性。在任何情況下,Tektronix、IEEE 或 IEEE 的任何成員概不負責任何直接、間接、特殊、懲戒性、懲罰性或後果性的損害,包括但不限於損失的利潤,即使已被告知發生此類損害的可能性。本文件僅提供參考。
100BASE -TX 實作方法 (MOI)
Tektronix 測試實作方法本 Tektronix 指南量測文件依「原樣」提供,不含明示或暗示的保固,包括 (但不限於) 任何明示或暗示無侵犯性保固、適銷性或特定用途的適當性。在任何情況下,Tektronix、IEEE 或 IEEE 的任何成員概不負責任何直接、間接、特殊、懲戒性、懲罰性或後果性的損害,包括但不限於損失的利潤,即使已被告知發生此類損害的可能性。本文件僅提供參考。
1000BASE -T 實作方法
Tektronix 測試實作方法本 Tektronix 指南量測文件依「原樣」提供,不含明示或暗示的保固,包括 (但不限於) 任何明示或暗示無侵犯性保固、適銷性或特定用途的適當性。在任何情況下,Tektronix、IEEE 或 IEEE 的任何成員概不負責任何直接、間接、特殊、懲戒性、懲罰性或後果性的損害,包括但不限於損失的利潤,即使已被告知發生此類損害的可能性。本文件僅提供參考。
驗證+除錯和特性分析的實作方法 (MOI)
本文件提供使用 Tektronix DPO/DSA70000 系列示波器和 DPOJET (抖動和眼狀圖分析工具) 進行 PCI Express 量測的程序和探測解決方案。DPOJET 和其 PCI Express 設定程序庫提供發射器路徑量測 (振幅、時間和抖動)、波形遮罩,以及 PCI Express 規格多個變數中所描述的極限測試。