PCI Express 適用的 TLA7SA00 邏輯協定分析儀

適用範圍從實體層到協定層除錯的完整解決方案。

TLA7SA00 系列邏輯協定分析儀模組提供創新的 PCI Express 驗證方法,涵蓋從實體層到異動層的所有協定層。功能豐富的軟體利用創新的異動與摘要簡介視窗,為檢視統計資料摘要與協定分析提供了更理想的資訊密度。硬體功能包括硬體加速、OpenEYE、ScopePHY 與 FastSYNC,可快速存取資料,協助縮短熟習測試系統所需的時間。運用強大的觸發與濾波功能,便可快速聚焦於目標資料。本系列是一套完整的探測解決方案,各種外形規格及應用均可適用。

TLA7SA08
記錄長度

4 GB,每筆輸入 160M 符號

TLA7SA16
記錄長度

8 GB,每筆輸入 160M 符號

功能

優點

OpenEYE 等化OpenEYE 技術搭配自動調諧等化電路,讓您能夠探測匯流排的任意位置
ScopePHY 探測將任何訊號直接導向高頻寬示波器,快速確保您的設定正確無誤,且 PCI 訊號符合探棒輸入需求
FastSYNC無論進階電源狀態管理效能的電氣閒置時間長短,保證重新同步時間 <12 FTS1 (PCIe2) 或 <4 FTS2 (PCIe3)
資料儲存與硬體加速搜尋存取資料,並在幾秒鐘內搜尋任意碼型 (無論資料長度為何)
完善的觸發系統快速建立觸發定義,在發生連結上最捉摸不定的 PCIe 事件時觸發
創新的資料檢視獲取前所未有的協定層至實體層資料能見度
  • 利用異動視窗
  • 觀察並分析協定元素 (異動、封包、欄位、指令集) 的連結行為
  • 利用整合至異動視窗的獨特鳥瞰圖取得制高能見度,找出與流量控制相關的系統問題
  • 透過摘要簡介視窗
  • 取得豐富資料統計視圖,檢視所有 PCIe 協定元素
  • 獨特的清單視窗顯示封包詳細資訊及逐線道符號解碼,供您深入分析實體層詳細資訊
多重匯流排關聯透過邏輯分析儀的傳統功能,針對多重匯流排 (DDR、PCIe、QPI 等) 與其他系統級活動提供完整的系統能見度
Datasheet LinkProbeDescriptionConfigure and Quote
P67SA01SD PCIE3 串列,1 個差動輸入,焊接式探棒 配置與報價
P67SA04S PCIE3 串列,8 個差動輸入,x4,插槽探測器探棒 配置與報價
P67SA08 PCIE3 串列,8 個差動輸入,x4,中途匯流排探棒 與我們聯絡
P67SA08S PCIE3 串列,16 個差動輸入,x8,插槽探測器探棒 配置與報價
P67SA16 PCIE3 串列,16 個差動輸入,x8,中途匯流排探棒 配置與報價
P67SA16S PCIE3 串列,32 差動輸入,x16,插槽探測器探棒 配置與報價
TitleType
The Basics of Serial Data Compliance and Validation Measurements

This primer is designed to help you understand the common aspects of serial data transmission & to explain the analog and digital measurement requirements that apply to these emerging serial technologies

Primer
尋找 PCIE 流量控制錯誤

本白皮書詳細介紹了如何使用鳥瞰圖 (BEV) 來調查流量控制,這是一個全新的視覺化效果。

規格摘要表
使用 Tektronix 通訊協定分析儀執行 PCI Express 探測解決方案

本白皮書討論如何確保正確的電路板設計和佈局,以使用 Tektronix PCIe 通訊協定分析儀進行數位除錯和驗證。

應用摘要
克服 PCI-Express 實體層挑戰

使用 Tektronix 邏輯通訊協定分析儀的強大觸發和多個資料檢視等功能,來克服實體層的挑戰。

白皮書
TLA7AS00 邏輯通訊協定分析儀設定視窗

使用 TLA7AS00 邏輯通訊協定分析儀的「軟性」前面板來診斷連結健康狀況

白皮書
TLA7SA00 單鍵校驗

有效地調諧 Tektronix TLA7SA00 邏輯通訊協定分析儀

白皮書
跨匯流排分析揭露相互作用和加速疑難排解

跨匯流排分析已成為不可或缺的疑難排解方法。此應用摘要探討了 Tektronix 新的強大邏輯分析解決方案,如何加速您的跨匯流排疑難排解需求

應用摘要
使用 Tektronix 邏輯通訊協定分析儀執行 PCI Express 電源狀態管理驗證和除錯

從即時示波器到邏輯分析儀與訊號源等各種量測工具,皆有助於工程師應付 PCI Express 量測挑戰。

白皮書
In this tutorial we will examine ways to improve productivity in embedded system validation and debug. Part I focuses on what can be done in the early design cycle to improve productivity. Part II…
下載
下載

下載手冊、產品規格表、軟體等等:

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