電源效率

確保安全、精確和快速在實驗室和晶片測試環境中進行 Si、SiC 和 GaN MOSFET 測試。瞭解更多有關在您的設計中採用 SiC 和 GaN 所帶來的測試挑戰,以及如何解決這些挑戰的資訊。探索如何將功耗降到最低,並最大化終端產品的電池壽命。加快設計的上市時間。

功率裝置特性分析

  • 安全、精確、快速進行 Si、SiC 和 GaN 裝置的 MOSFET 測試
  • 寬功率包封
  • 安全地設定您的測試
  • 以兩倍的速度將裝置特性化,從而加快上市時間
  • 避免過度設計造成您的寬能隙裝置成本上揚

自動參數測試

  • 全自動 HV 晶片位準測試
  • 以不變更測試設定的方式從高電壓轉換到低電壓
  • 以不人工重新配置快速自動化的方式來量測電容

讓您的功率轉換設計更快上市

  • 克服高共模電壓
  • 同時量測多個控制和時序訊號
  • 更快的自動功率量測
  • 兼顧相容性

最大化 IoT 裝置的電池壽命

  • 判斷負載電流輪廓圖
  • 模擬任何電池
  • 模擬任何類型的電池

功率效率的趨勢

對於為何功率效率在設計時已成為比以往更重要的考慮因素,我們的工程師分享了他們的觀點。請將此頁面加入書籤以獲得定期更新。

「因此,今年我們已看到了碳化矽的重大轉折點,目前已有許多相關的商業產品。」

Tom Neville, Tektronix

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