下載
下載

下載手冊、產品規格表、軟體等等:

下載類型
機型或關鍵字

電源效率

確保安全、精確和快速在實驗室和晶片測試環境中進行 Si、SiC 和 GaN MOSFET 測試。瞭解更多有關在您的設計中採用 SiC 和 GaN 所帶來的測試挑戰,以及如何解決這些挑戰的資訊。探索如何將功耗降到最低,並最大化終端產品的電池壽命。加快設計的上市時間。

icon_pwr-semiconductor

功率裝置特性分析

  • 安全、精確、快速進行 Si、SiC 和 GaN 裝置的 MOSFET 測試
  • 寬功率封裝元件
  • 安全地設定您的測試
  • 以兩倍的速度將裝置特性化,從而加快上市時間
  • 避免過度設計造成您的寬能隙裝置成本上揚
icon_auto-parametric-test

自動參數測試

  • 全自動 HV 晶片位準測試
  • 以不變更測試設定的方式從高電壓轉換到低電壓
  • 以不人工重新配置快速自動化的方式來量測電容
icon_pwr-conv-design

SiC 和 GaN 電源轉換

  • 克服高共模電壓
  • 同時量測多個控制和時序訊號
  • 更快的自動功率量測
  • 兼顧相容性
icon_max-battery-life

最大化 IoT 裝置的電池壽命

  • 判斷負載電流輪廓圖
  • 模擬任何電池
  • 模擬任何類型的電池

控制迴路分析

  • 以示波器為基礎的響應量測設置
  • 控制迴路量測的探棒特性
  • 使用波德圖量測穩定性餘裕
  • 控制迴路分析系統

電源供應量測和分析

  • 切換損耗量測和分析
  • 電路內部電感和轉換量測
  • GaN 和 SiC 切換裝置量測
  • 安全工作區 (SOA)
  • 電源供應器互斥比
  • 控制迴路響應

分析配電網路 (PDN) 的電源完整性

  • 在不阻隔直流電的情形下量測高頻漣波
  • 處理 1 V 至 48 V 及以上的電源
  • 儘量減少量測系統雜訊貢獻
  • PDN 阻抗量測
  • 同步頻譜和波形以找出雜訊來源
  • 自動電軌量測

在三相可變頻驅動器上進行量測

  • 在 PWM 三相馬達驅動器上執行穩定的量測
  • 以示波器為基礎的相量圖
  • 量測系統效率
  • 直流匯流排量測
  • 支援 2V2I、3V3I 星型和三角形配置,以及直流輸入/三相輸出。

電源效率的趨勢

對於為何功率效率在設計時已成為比以往更重要的考慮因素,我們的工程師分享了他們的觀點。

「今年我們看到了碳化矽的巨大轉折點,許多商用產品相繼問世。」

Pat Hensley,Tektronix

閱讀更多