PCI Express

精確、可重複的 PCIe 量測

近二十年來，PCI Express® 科技一直是被廣泛採用的高速串列介面連接標準。最新 PCIe® 規格可滿足資料密集型的市場需求，例如人工智慧/機器學習及高效能運算。

我們的 PCIe 自動化測試解決方案，可藉由解決設定及校驗問題來大幅降低測試複雜性。這些解決方案結合低雜訊量測硬體，可達成快速、準確且可重複的量測。身為 PCI-SIG® 工作群組的現任投票成員，我們擁有發射器、接收器、參考時脈和鎖相迴路 (PLL) 驗證所需的專業知識。

PCI Express、PCIE 和 PCI-SIG 是 PCI-SIG 的註冊商標和/或服務標誌。

PCI Express 全方位自動化測試解決方案

Fast, Easy PCIe Lane Margining

資料中心架構必須更常回應資料移動和存取需求，同時將耗電量降至最低、提高效率，支援更大型及更多元的應用。奠基於 PCIe 強大的實體層，CXL 能滿足這些需求，讓處理器能夠以高效能的方式存取同樣的記憶體資源、彼此溝通，並在單一架構上執行。Tektronix 實體層解決方案支援最快速的 CXL 資料速率 (32 Gt/s) 以及各種外形尺寸，以符合這項新興技術的需求。

行業領先的 PCIe Base 6.0 發射器和接收器測試解決方案

近期推出的 PCIe 6.0 Base 規格將頻寬與電源效率提高了一倍。PCIe 6.0 導入 PAM4 訊號傳輸與前向錯誤修正 (FEC) 等功能，以支援高資料傳輸速率 (64.0GT/s) 同時維持低延遲。Tektronix 的 PCIe 6.0 發射器 (Tx) 與接收器 (Rx) 測試解決方案，可協助工程師解決最新的設計與驗證問題。直覺式工具提供開箱即用的量測支援，包括訊號雜訊失真比 (SNDR) 和不相關的抖動以及最新規範下要求的接收器應力眼圖 TP3/TP2 校正和儀器雜訊補償。

檢視 PCIe Gen 6.0 Tx 產品規格表

檢視 PCIe Gen 6.0 Rx 產品規格表

PCIe Base 6.0 Transmitter and Receiver Test

PCIe Gen1 到 Gen5 發射器測試解決方案

我們的 PCIe 發射器測試解決方案，透過提供從 2.5 GT/s 到 32.0 GT/s (Gen1 到 Gen5) 的 PCIe 發射器驗證及合規性解決方案，來維持向後相容性。支援從早期矽電壓/時序特性到平台位準發射器及參考時脈量測的頻距。Tektronix 技術領導者透過整合所有工程變更通知 (ECN) 並支援 PCI-SIG 合規研討會作為經批准的解決方案，確保這些解決方案保持相關性。

檢視 PCIe Gen 1-5 產品規格表

檢視 PCIe Gen5 手冊

PCIe 接收器與 PLL 測試解決方案

由於在高損耗通道上校驗壓力眼圖訊號需要極高的靈敏度，PCIe 接收器的驗證極為困難。Tektronix 的 PCIe 接收器測試解決方案使您確信您的設計已在所需的誤碼率 (BER) 目標下進行了全面測試。我們的直覺式分步工具為 Anritsu MP1900A BERT 提供連結訓練程序，確保您的接收器獲得準確的測試。自動化測試支援壓力眼圖校驗、最新的發射器與接收器連結等化合規性測試、自訂 BER 執行，以及抖動容差特性分析。此架構也支援簡易發射器 PLL 頻寬與峰值量測。

檢視 PCIe 接收器測試網路研討會

檢視 PCIe 接收器產品規格表