與我們聯絡
與 Tek 業務代表即時對談。 上班時間：上午 6:00 - 下午 4:30 (太平洋時間)
請致電 1-800-833-9200
與 Tek 業務代表即時對談。 上班時間：上午 8:30 - 下午 5:30 (太平洋時間)
下載
下載手冊、產品規格表、軟體等等：
80
高達 15
12
100 nV
10 pA
1 µOhm
1 M 取樣率/秒
16 位元
減少您的測試設定、執行及分析時間
簡單快速地設定及執行測試，無須撰寫測試程式。 DAQ6510 資料擷取和記錄萬用電錶系統的直覺式觸控式螢幕，具備視覺及直覺式測試設定能提供簡易設定、即時的視覺化掃描狀態，可及早發現問題並避免遺失測試時間，還能夠輕鬆分析測試資料。
特性
- 配置：使用一個量測和掃描配置功能表，利用多個量測功能來設定多通道掃描。
- 執行及監視：在測試期間顯示掃描進度，立即查看範圍以外的量測和超出的限制。
- 分析：使用繪圖及統計功能來顯示及分析結果。 使用觸控式螢幕的捏合及縮放功能來深入瞭解結果。 使用游標來計算資料區段的統計。
進行更廣泛的量測範圍
DAQ6510 是設計為使用 6 位半數位解析度和 15 項內建量測功能進行量測。 進行低電流、低電阻和溫度量測，並使用內建的數位器來查看暫態訊號。
特性
- 電壓：100 nV 至 1000 V，基本 DCV 準確度為 0.0025%
- 電流：10 pA 至 3A
- 電阻：1 µΩ 至 120 MΩ
- 電容：0.1 pF 至 100 µF
- 連接熱電耦、RTD感測器、熱敏電阻，可做 -200°C 至 1820°C 的溫度測量
- 1 M 取樣率/秒，16 位元數位器，含 7 百萬筆讀數儲存
- 包含 12 個外掛程式切換模組和高達 80 個通道容量的測試系統能提供更多選項
串流和記錄資料以確保雲端式資料視覺化
現在，您可以從 DAQ6510 串流資料，並建立即時物聯網儀表板，以及可隨處存取的資料視覺化
特性
- 直接從 DAQ6510 即時監視和記錄資料串流，並且可以從任何地方進行監視 - 無需 PC 在中間。
- 根據量測閾值和其他數學規則，使用觸發器取得電子郵件和文字警示。
- 存取、視覺化、封存、共享、轉換和分析來自任何地方的目前和歷史資料 - 無需進行安裝。
- 建立儀表板以實現標準化、可重複性和可讀性。
- 跨測試執行重疊、時間膨脹和比較資料集
減少測試時間
以最少的時間收集最大量的資料。 更快速進行量測、切換通道，並掃描更多通道。
特性
- 以短如 0.0005 的電源線週期，或是 60 Hz (50 Hz) 電源線 8.3 µs (10 µs) 進行量測。
- 使用固態多工處理器外掛程式切換模組，以每秒 800 個通道的速率進行掃描。
- 掃描高達 80 個 2 極通道，在單一測試中測試統計上大量的 DUT。
快速可靠地連接至 DUT
DAQ6510 能讓您在其許多外掛程式切換模組上，使用大量終端 D-Sub 連接開始測試之前就能提升效率。 這可讓您在系統維護期間、或是當您在設定新的測試系統時，能夠將變更外掛程式切換模組時的停機時間降至最低。
在一組完整的介面選項中選擇
標準 LAN、LXI 和 USB 介面可讓您輕鬆整合至您的測試系統。 選擇性、可現場安裝的 GPIB 和 RS-232 介面卡包含六個數位 I/O 埠，可供儀器直接的同步與通訊使用。 DAQ6510 可輕鬆與您選擇的任何 PC 介面搭配使用。
使用 KickStart 資料擷取應用進行快速 PC 自動化
使用 KickStart 儀器控制軟體在 PC 快速對資料擷取進行程式設計。 軟體不需要進行程式設計；只需使用功能表螢幕輸入測試設定。 然後將表格和圖形格式中的結果視覺化。
有信心的進行環境測試與加速老化測試
透過觸控螢幕，快速架構具統計意義數量的元件測試。 在測試進行期間監視測試狀態。 在觸控式螢幕上查看圖形和表格格式的資料。
特性
- 使用單一 DAQ6510 主機在一個設定中測試高達 80 部裝置。
- 視需要使用 TSP-Link® 介面擴充至較高通道，以連接及控制多個 DAQ6510 主機。
- 使用任何 8 個不同的熱電耦類型、5 個不同的 RTD 或 3 個不同的熱阻器來監視範圍在 -200⁰ C 到 1820⁰ C 的溫度。
- 設定限制並定義關鍵通道，在測試期間進行監視，以便在問題發生時立即得知。
- 將測試資料儲存在外部 USB 磁碟或 PC 上，以確保您不會遺失重要資料。
- 對 DAQ6510 進行程式設計為在失去電力時重新啟動，以在夜間及週末期間將遺失的測試時間降至最低。
以經濟實惠的方式測試較低值的電阻元件
使用 DAQ6510 準確可靠地測試諸如纜線、低值電阻和接頭等元件。
特性
- 以 1 µΩ 的靈敏度進行量測。
- 使用四線電阻功能來消除導線電阻誤差。
- 使用偏差補償來消除熱接點誤差。
增加測試容量並增加製造時的輸送量
<p>使用 DAQ6510 來增加具有單一測試系統的裝置數量並最大化測試容量。利用 DAQ6510 所提供的快速量測時間及快速掃描率。
特性
- 將一個測試系統的測試系統容量擴充至高達 80 部裝置。
- 以 0.0005 電源線週期整合時間進行快速量測。
- 使用固態繼電器卡進行大量製造，並以高達 800 通道/秒的速率來掃描 DUT。
- 讓 DAQ6510 執行並控制測試，透過使用 DAQ6510 的內部 TSP 程式執行，大幅降低與 PC 的通訊時間。
| 產品規格表 | 模組 | 說明 | 配置與報價 |
|---|---|---|---|
| 檢視產品規格表 | 7700 | 20 個通道多工處理器 | 配置與報價 |
| 檢視產品規格表 | 7701 | 32 通道差動多工處理器 | 配置與報價 |
| 檢視產品規格表 | 7702 | 40 個通道差動多工處理器 W/SC | 配置與報價 |
| 檢視產品規格表 | 7703 | 32 通道高速差動多工處理器 | 配置與報價 |
| 檢視產品規格表 | 7705 | 40 個通道控制模組 | 配置與報價 |
| 檢視產品規格表 | 7706 | 全方位 I/O 模組 | 配置與報價 |
| 檢視產品規格表 | 7707 | 多工處理器數位 I/O 模組 (25 針腳) | 配置與報價 |
| 檢視產品規格表 | 7708 | 40 個通道差動多工處理器模組 | 配置與報價 |
| 檢視產品規格表 | 7709 | 6 X 8 矩陣模組附 25 及 50 針腳母接頭 | 配置與報價 |
| 檢視產品規格表 | 7710 | 20 個通道 60V 固態多工處理器卡 | 配置與報價 |
| 檢視產品規格表 | 7711 | 2GHZ，雙 1X4，50 歐姆多工處理器卡 | 配置與報價 |
供應配件
- USB-B-1 — USB 纜線，Type A 轉 Type B，1 公尺 (3.3 英呎) 可追溯的校驗證書三年保固
選配介面和可程式設計的數位 I/O
- KTTI-RS232 — RS-232 通訊與數位 I/O 配件，使用者可安裝
- KTTI-GPIB — GPIB 通訊與數位 I/O 配件，使用者可安裝
- KTTI-TSP — TSP-Link 通訊與數位 I/O 配件，使用者可安裝
可使用的配件
測試引線和探棒
- 1752 — 頂級安全測試引線套件
- 1756 — 一般用途測試引線套件
- 8610 — 低熱短路插頭
PC 通訊介面和纜線
- KPCI-488LPA — PCI 匯流排的 IEEE-488 介面
- KUSB-488B — IEEE-488 USB 至 GPIB 介面轉接器
- 174694600 — TSP-Link/乙太網路的 CAT5 交叉纜線
- 7007 — 屏蔽式 GPIB 纜線
轉接器
- DB9-MM — 9 接腳，D-sub，公對公接頭連接選項
觸發和控制
- 8503 — DIN 轉 BNC 觸發纜線
替換保險絲
- FU-99-1 — 電流輸入保險絲，3 A，250 V 快熔型 5×20 mm
- FU-106-1.25 — 主輸入保險絲，1.25 A，250 V，Slo-Blo
可使用的服務
延長保固
- DAQ6510-EW — 3 年原廠保固延長為出貨日起 4 年保固
- DAQ6510-5Y-EW — 3 年原廠保固延長為出貨日起 5 年保固
- 插入式模組的保固請查閱其產品規格表
校驗合約
- C/DAQ6510-3Y-DATA KeithleyCare — 3 年校驗服務與資料
- C/DAQ6510-5Y-DATA KeithleyCare — 5 年校驗服務與資料計劃
- C/DAQ6510-3Y-STD KeithleyCare — 3 年標準校驗計劃
- C/DAQ6510-5Y-STD KeithleyCare — 5 年標準校驗計劃
Control your instruments from your PC
Drive innovation through faster test & measurement with KickStart Software. KickStart instrument control software for the PC enables quick test setup, text execution and data visualization. By plotting data immediately and offering quick statistical summaries of the data in the reading table, KickStart allows you to gather insights faster and make the decisions you need to make.
- Run tests on multiple types of bench instruments independently or simultaneously
- Auto export data for long term logging
- Replicate tests quickly using saved test configurations
- Use built-in plotting, comparison and statistical tools to quickly discover measurement anomalies and trends
- Configure tests using simulated instruments and swap in real instruments when available