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吉時利自動化特性分析套件 (ACS) 軟體

Keithley 自動化特性分析套件 (ACS) 為彈性互動式軟體測試環境,適合裝置特性分析、參數測試、可靠性測試,甚至簡單的功能性測試。ACS 支援各種 Keithley 儀器和系統、硬體組態及測試設定,從一些用於品保實驗室的桌上型儀器,到完全整合與自動化的以機架為基礎的測試系統。藉由 ACS,使用者可用自動化硬體管理工具來設定其儀器,快速執行測試,而無須程式設計的知識。

 

下載免費試用版軟體

keithley-logo

 支援 Windows 11
基本價格
US $428 +

可靈活設定特性分析應用的程式設計偏好

ACS 具有指令檔編輯器,這是一個獨立的工具,具有圖形使用者介面,可供開發 Python 程式碼與 TSP® 指令檔,以執行儀器控制、資料分析及系統自動化。其能讓使用者以直覺的方式建立與開發 GUI 設計,及管理使用者資料庫與模組。

自動進行資料收集程序

ACS 的晶片探棒自動化選項,能夠將各種常用的半自動或全自動化晶片探測站,輕鬆地接合到測試設定,以快速擷取大量資料。此選項包括晶片說明公用程式、具備分割分析的即時晶片映射、卡位取樣方案規劃公用程式,以及測試後卡位與晶片審查公用程式。許多內建在 ACS 的工具與功能,可增強自動裝置的特性分析。

分享測試專案與結果

ACS 提供一組可用於各種硬體組態的常用重要元件,能夠縮短時間並提升產能。系統在不同的硬體實作之間轉移時,皆有一致的效能,因此舉例來說,能夠將您對於用於單一裝置元件特性分析的以 ACS 為基礎系統知識,輕鬆地轉移到為晶片位準測試設計的系統。

充分發揮 Keithley 硬體的生產力

ACS 中的工具可簡化測試開發,並加快每個連結至此系統的 Keithley 儀器速度。ACS 與 Keithley 以 TSP 為基礎的硬體搭配在一起時,能夠提供業界最高的輸送量,因此可降低成本,而且無須花時間學習新的程式設計概念或語言,就能取得達成目標所需的資料。

ACS and Keithley TSP-based hardware

支援的儀器

儀器類型 機型 ACS 版
敏感 6200 系列,2182A ACS 基本
ACS 標準
SMU 儀器 2600B系列:2601B、2602B、2604B、2611B、2612B、2614B、2634B、2635B、2636B
2600A 系列:2601A、2602A、2611A、2612A、2635A、2636A
2400 圖形觸控式螢幕系列:2450、2460、2460-NFP、2460-NFP-RACK、2460-RACK、2461、2461-SYS、2470
2400 標準系列:2401、2410、2420、2430、2440
2606B 高密度:2606B
2650 大功率系列:2651A、2657A
ACS 基本
ACS 標準
參數分析儀 4200A ACS 基本
ACS 標準
DMM DMM7510、DMM6500、2010 系列 ACS 基本
ACS 標準
切換系統 707A/B、708A/B、3700A ACS 基本
ACS 標準
脈衝產生器 3400 系列 ACS 基本
ACS 標準
探棒 TEL P8/P12、TEL T78S/80S、ACCRETECH (Tokyo Semitsu) TSK9/UF200/UF3000/APM60/70/80/90、MPI SENTIO TS2000/TS2000-SE/TS2000-HP/TS3000、FormFactor (Cascade) Summit 12000、FormFactor (Cascade) S300、Suss MicroTec PA200/Cascade CM300、Electroglas EG2X/EG4X、Wentworth Pegasus 300S、Signatone CM500、Yang Sagi3、Micromanipulator P300A、Vector Semiconductor AX/VX 系列、Apolowave AP200/AP300、MJC AP-80、Semiprobe SPFA 探棒、HiSOL ACS 標準

附註:

  1. ITM 支援 24xx TTI 儀器、26xx 儀器和混合使用案例。
  2. 使用者可以透過 STM 指令碼控制任何 TSP 儀器。現有的 ACS STM 資料庫支援每個資料庫定義的特定儀器。
  3. 使用者可透過 PTM 指令碼控制任何儀器。現有的 ACS PTM 資料庫支援每個資料庫定義的特定儀器。

ACS 基本版主要功能

US $428

3 個月訂閱

US $1,380

12 個月訂閱

US $3,500

終身

 

  • 專為封裝的裝置 (MOSFET、BJT、IGBT、二極體、電阻等) 所設計
  • 提供一組豐富的測試庫,可快速輕鬆地測試設定與執行,無須程式設計
  • 內建的資料分析工具,可快速分析參數資料
  • 使用自動化硬體管理工具簡化儀器配置

關於 Tektronix 軟體授權

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選取授權選項以繼續

ACS 標準版主要功能

US $8,490

12 個月訂閱

 

  • 支援以下測試模組:GUI、Lua Script、Python 和 C
  • 支援多種儀器和探棒,以適應各種應用
  • 直覺式 GUI 簡化了從桌上型到全自動參數測試儀的 I-V 測試、分析和結果,以增强使用者體驗
  • 在裝置、子網站、網站、晶片和卡式位準中開發及執行測試,以提高測試能力

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ACS WLR 版主要功能

US $13,600

12 個月訂閱

 

  • 2 至 44 通道的系統配置
  • 完整的 JEDEC 相容測試套件
  • 針對新興和成熟科技進行最佳化
  • 支援依序和並行測試
  • 全自動單網站和多網站功能
  • 與所有熱門的晶片探測站相容
  • 即時繪圖和晶片映射

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維護授權

關於 Tektronix 軟體授權

軟體維護會透過維護授權來授權。維護授權會延長軟體的維護期間,並啟用持續的軟體更新。維護僅花費軟體本身價格的一小部分,而且是新功能發行時維持最新版本的最佳方式。此授權僅適用於永久授權;請考量訂閱已包含訂閱期間的維護。請在維護到期之前或當天套用維護授權,以確保軟體更新不中斷。如果維護過期,只要購買能補足並從到期日延長的足夠授權,即可延長維護期間。與立即購買最新版本相比,依此方式更新維護能為安全更新軟體取得折扣。

附註:永久授權包含第一年的維護,但在第一年後需要每 12 個月取得新的維護授權,以繼續接收更新。

ACS 基本版維護     

US $530

ACS 標準版維護

US $3,230

ACS 晶片位準可靠度維護

US $5,230

從實驗室到晶圓廠的應用

以 ACS 為基礎的「整合測試系統」是完整的解決方案,適用於如參數晶粒分類、高功率半導體元件特性分析,及晶片位準可靠度測試等應用。當與合適的半自動與全自動探測站搭配時,其硬體組態與測試專案開發能夠針對特定的任務最佳化。

使用 Keithley 高功率系統 SMU 儀器和 ACS 基本版軟體應用摘要測試功率半導體裝置

多站點並行測試應用摘要的 ACS 整合測試系統

Shared Stress Setup

可靠度和吞吐量雙雙提升

可靠度測試可增進品質、降低故障率、確保高產出,並提振您的信心。ACS 軟體支援共用壓力法以進行高容量可靠度測試,加快測試時間。 

使用 ACS 應用摘要進行共用壓力可靠度測試

使用差值模式量測超低電阻

2182A/622X 組合非常適合多種奈米技術應用,因為它無需損耗待測試中裝置 (DUT) 的大量功率就可以量測電阻,而其他方式可能會產生無效結果,甚至破壞 DUT。利用 ACE 軟體執行差值模式測試,將這些靈敏度量測納入測試系統。

Keithley 超低電阻配置系列 6200/2182A

Ultra-Low Resistance Measurements using Delta Mode

GaN HEMT I-V 特性分析的供電排序

GaN HEMT 具有「通常開啟」的特性,因此在 I-V 特性分析期間需要特定的供電順序。ACS 軟體支援裝置 GaN HEMT 特性分析的供電順序,擷取其固有的 I-V 特性時不會傷害裝置。

GaN HEMT 特性分析的供電順序應用注意事項

應用在整個半導體工作流程

ACS Basic Edition 與 ACS Standard Edition 軟體皆用於整個半導體工作流程中,以執行半導體裝置詳細特性分析的各種測試。ACS Basic 與 ACS Standard 整合式系統提供:

  • 裝置、晶片與卡式位準的測試
  • 彈性的設定方式,以及可自訂的軟體與應用程式
  • 互動式且自動化的系統操作
  • GUI 與指令檔工具的強大組合可供開發測試模組之用
Serving Applications Across the Semiconductor Workflow

開發階段

ACS Basic Edition 軟體已針對元件和離散 (封裝) 半導體裝置的參數測試最佳化。此軟體具有以下重要功能,能夠提高研發技術人員與工程師的生產力:

  • 針對封裝的裝置 (MOSFET、BJT、IGBT、二極體、電阻等) 設計
  • 提供一組豐富的測試庫,可快速輕鬆地測試設定與執行,無須程式設計
  • 內建的資料分析工具,可快速分析參數資料
  • 支援 Keithley 的 2600B 系列、2400 系列、2651A 和 2657A 系統 SourceMeter SMU 儀器

整合階段

ACS Standard Edition 軟體用於半自動晶片測試的整合階段,包括穩健的程序開發與晶片位準可靠度 (WLR)。此軟體可用於 SMU 每個接腳系統位準測試。ACS WLR 軟體具有以下優點:

  • 全自動功能,可測試個別的晶片或整個卡位
  • 可彈性設定測試與進行平行測試的軟體
  • 可靠度測試模組 (RTM) 與 JEDEC 標準測試方法相容
  • 支援建立自訂的測試模組/程序

生產階段

ACS Standard Edition 軟體也用於完全整合及自動化的以機架為基礎的自訂測試系統,以用於製程控制監控 (PCM)、晶片驗收測試 (WAT) 及晶粒分類。許多內建在 ACS Standard 軟體的工具與功能可增強 自動裝置的特性分析:

  • 晶片位準與卡式位準自動化
  • 測試映射對映射裝置及對站點和子站點的測試
  • 互動式探測站控制模式
  • 單一或各個晶片 Keithley 資料檔案 (KDF) 和/或 CSV 檔案