吉時利自動化特性分析套件 (ACS) 軟體

吉時利自動化特性分析套件 (ACS) 軟體

ACS 是種彈性互動式軟體測試環境,其設計旨在進行半導體裝置特性分析、可靠度測試、參數測試,以及元件功能測試。ACS 支援多種 Keithley 儀器,以及 Keithley 的 S500 和 S530 系統。絕佳的測試和分析彈性以及直觀的 GUI,即使是新手使用者也能幾乎立即具有生產力。

  • 直觀的 GUI 可簡化測試方案開發作業、測試執行作業和結果分析作業
  • 在裝置、網站、晶片和卡式位準開發並執行測試
  • 支援廣泛的儀器和系統配置,包括多重 SMU 平行測試系統
  • 完全控制半自動和全自動探棒
  • 互動式和即時資料繪製

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吉時利自動化特性分析套件 (ACS) 軟體
機型 說明 參考價格
ACS-BASIC

ACS 基本版主要用於利用手動探測站或測試治具進行半導體組件測試。利用「追蹤模式」以互動方式快速執行初始裝置特性分析化。或者,使用 GUI 式設定畫面和廣泛的量測資料庫,建立詳細的參數擷取測試。

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配置與報價
ACS.

ACS 支援廣泛的半自動和全自動探棒,對整個晶片進行半導體裝置量測。 或者,以互動方式控制探棒,測試個別裝置。 執行期間利用個別裝置結果和多重裝置統計資料監控測試進度。

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配置與報價
機型 ACS-BASIC
參考價格
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說明

ACS 基本版主要用於利用手動探測站或測試治具進行半導體組件測試。利用「追蹤模式」以互動方式快速執行初始裝置特性分析化。或者,使用 GUI 式設定畫面和廣泛的量測資料庫,建立詳細的參數擷取測試。

參考價格
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說明

ACS 支援廣泛的半自動和全自動探棒,對整個晶片進行半導體裝置量測。 或者,以互動方式控制探棒,測試個別裝置。 執行期間利用個別裝置結果和多重裝置統計資料監控測試進度。

何謂 ACS?

ACS 是功能強大的軟體架構,供工程師執行廣泛測試,以取得半導體裝置的詳細特性分析。 使用 ACS 搭配 Keithley 廣泛一系列領先業界的 SMU 儀器和系統。 利用標準 ACS 控制自動探棒,於晶片或卡式位準中進行自動測試。 若為手動或單一裝置測試,請考慮 ACS 基本版。 針對進階的多重 DUT 晶片位準可靠度 (WLR),使用標準 ACS 搭配 ACS-2600-RTM 選項。  或是深入瞭解下列各種應用解決方案、量測硬體和 ACS 功能!

元件特性分析

為離散半導體組件 (例如 MOSFET、雙極性電晶體、二極體、高功率 IGBT 以及其他) 建立和管理廣泛的深入測試和量測結果。 在底下探索吉時利廣泛的「量測功能」和對應說明。

按一下左邊的「量測功能」來檢視其說明

ACS 軟體
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ACS 支援廣泛的半自動和全自動探棒,對整個晶片進行半導體組件量測。 或者,以互動方式控制探棒,測試個別裝置。 執行期間利用個別裝置結果和多重裝置統計資料監控測試進度。

ACS 基本版軟體

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ACS 基本版主要用於利用手動探測站或測試治具進行半導體組件測試。 利用「追蹤模式」以互動方式快速執行初始裝置特性分析化。 或者,使用 GUI 式設定畫面和廣泛的量測資料庫,建立詳細的參數擷取測試。 ACS 基本版可以快速產生即時結果,以在 ACS 基本版內進行分析,或匯出到其他離線分析工具。

2600B 系列系統 SourceMeter ® 精密電源/量測設備 (SMU) 儀器
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2600B 系列 SourceMeter SMU 儀器包括雙通道設備,最適合用於測試多終端半導體,例如 MOSFET 和 BJT。Keithley 的 TSP-Link® 可在 SMU 儀器之間提供協調的控制和精確時序。可讓您從 2600 系列的各種機型中選擇,以符合特定電壓和電流規格。如需詳細資訊,請按一下 此處

系列 2650A 高功率系統 SourceMeter 電源量測設備 (SMU) 儀器
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2650A 系列高功率 SourceMeter SMU 儀器可以用於各種測試配置中。取得並量測 3kV 或 50A 脈波,最高可達 2000W 脈波或 200W 直流。同級產品中最佳的低電流功能提供絕佳的洩漏量測。使用 Keithley 的 TSP-Link® 並搭配低功率 2600B 系列 SourceMeter SMU 儀器,進行整合系統配置。如需詳細資訊,請按一下 此處

PCT 配置

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吉時利的參數曲線追蹤儀配置是電源裝置特性分析的完整特性分析解決方案,包括高效能儀器、纜線、測試治具和軟體。 有七個配置可用,每一個配置都提供即時追蹤模式,用於快速檢查基本裝置參數 (如崩潰電壓) 和完整參數模式,用於擷取精確的裝置參數。

機型 4200-SCS 參數分析儀
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機型 4200-SCS 參數分析儀的 200V/1A SMU 和 400V C-V 功能最適用於半導體組件特性分析。使用 2650A 高功率 SourceMeter SMU 儀器配置 4200-SCS,最高測試可達 3kV 或 50A。透過此範圍的 Keithley 功能搭配 ACS 基本版軟體來建立並執行測試。如需詳細資訊,請按一下 此處

S500 整合式測試系統
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使用 S500 整合式測試系統體驗 Keithley 提供的完整統包解決方案。這些高度可配置系統可以納入廣泛的量測功能,供技術開發測試站使用。或者,使用 ACS 的自動功能搭配 S500 系統,透過自動的晶片探棒進行高傳輸率的多重裝置測試。如需詳細資訊,請按一下 此處

 

產品規格表配件說明
ACS-2600-RTM ACS 可靠度測試選項
ACS Basic Software Reference Manual The ACS Basic Reference Manual includes advanced operation topics, information regarding support…The ACS Basic Reference Manual includes advanced operation topics, information regarding support for Keithley's source and measure instrument products, and in-depth descriptions of programming commands.
零件編號: ACSBASIC-901-01G
Primary User
ACS Software Quick Start Guide The ACS Quick Start Guide describes installation information, basic connections, reviews basic…The ACS Quick Start Guide describes installation information, basic connections, reviews basic operation and hardware information, and how to perform a test.
零件編號: ACS-903-01E
Primary User
ACS Software Reference Manual The ACS Reference Manual includes advanced topics, information regarding support for Keithley's…The ACS Reference Manual includes advanced topics, information regarding support for Keithley's source and measure instrument products, and in-depth descriptions of programming commands. 
零件編號: ACS-901-01L
Primary User
ACS Basic Software Quick Start Guide The ACS Basic Quick Start Guide describes installation information, basic connections,…The ACS Basic Quick Start Guide describes installation information, basic connections, reviews basic operation and hardware information, and how to perform a test. 
零件編號: ACSBASIC-903-01C
Primary User
ACS Automated Characterization Suite Software

零件編號: 1KW-61545-0
數據表
ACS Basic Edition Semiconductor Parametric Test Software for Component and Discrete Devices

零件編號: 1KW-2996-2
數據表
ACS-2600 RTM User's Manual
ACS-2600 RTM USERS MANUAL
零件編號: ACS2600RTM-900-01B
Primary User
VDS Ramp and HTRB Reliability Testing of High Power Semiconductor Devices
with Automated Characterization Suite (ACS) Software
Application Note 09 Nov 2018
ACS SOFTWARE VERSION 5.2.1 RELEASE NOTES
ACS Software version 5.2.1 Release Notes
零件編號: PA-1008K
User
ACS Integrated Test System for Multi-Site Parallel Test
Application Note 08 Aug 2017
Cost Effective Semiconductor Lab Automation
Technical Article 08 Aug 2017
Evolving Semiconductor Characterization and Parametric Test Solutions for the Evolving Semiconductor Industry (also Applicable to Series 2600B)
Whitepaper 08 Aug 2017
Testing High Power Semiconductor Devices from Inception to Market
Brochure 30 May 2017
Testing Power Semiconductor Devices with Keithley High Power System SourceMeter SMU Instruments
Application Note 05 Feb 2017
ACS Integrated Test System for Lab-Based Automation
Increasing time to market and cost of test pressures means that test engineers must do more with less. Leveraging Keithley’s proven instrumentation and measurements, ACS integrated test systems fill an important gap between interactive laboratory-based…
Application Note 08 Aug 2016
下載
下載

下載手冊、產品規格表、軟體等等:

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