吉時利自動化特性分析套件 (ACS) 軟體

Keithley 的自動化特性分析套件 (ACS) 是一個彈性靈活的互動式軟體測試環境,針對裝置特性分析、參數測試、可靠度測試,甚至是簡單的功能測試所設計。ACS 支援各種 Keithley 儀器和系統、硬體組態及測試設定,從一些用於品保實驗室的桌上型儀器,到完全整合與自動化的以機架為基礎參數測試儀。有了 ACS,使用者便已準備就緒並能夠快速執行測試,無須具備程式設計知識。

 

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基本價格
US $6,660 - US $16,200
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吉時利自動化特性分析套件 (ACS) 軟體

可靈活設定特性分析應用的程式設計偏好

ACS 具有指令檔編輯器,這是一個獨立的工具,具有圖形使用者介面,可供開發 Python 程式碼與 TSP® 指令檔,以執行儀器控制、資料分析及系統自動化。其能讓使用者以直覺的方式建立與開發 GUI 設計,及管理使用者資料庫與模組。

自動進行資料收集程序

ACS 的晶片探棒自動化選項,能夠將各種常用的半自動或全自動化晶片探測站,輕鬆地接合到測試設定,以快速擷取大量資料。此選項包括晶片說明公用程式、具備分割分析的即時晶片映射、卡位取樣方案規劃公用程式,以及測試後卡位與晶片審查公用程式。許多內建在 ACS 的工具與功能,可增強自動裝置的特性分析。

分享測試專案與結果

ACS 提供一組可用於各種硬體組態的常用重要元件,能夠縮短時間並提升產能。系統在不同的硬體實作之間轉移時,皆有一致的效能,因此舉例來說,能夠將您對於用於單一裝置元件特性分析的以 ACS 為基礎系統知識,輕鬆地轉移到為晶片位準測試設計的系統。

充分發揮 Keithley 硬體的生產力

ACS 中的工具可簡化測試開發,並加快每個連結至此系統的 Keithley 儀器速度。ACS 與 Keithley 以 TSP 為基礎的硬體搭配在一起時,能夠提供業界最高的輸送量,因此可降低成本,而且無須花時間學習新的程式設計概念或語言,就能取得達成目標所需的資料。

機型 說明 參考價格
ACS-BASIC

ACS 基本版主要用於利用手動探測站或測試治具進行半導體組件測試。利用「追蹤模式」以互動方式快速執行初始裝置特性分析化。或者,使用 GUI 式設定畫面和廣泛的量測資料庫,建立詳細的參數擷取測試。

US $6,660
配置和報價
ACS.

ACS 支援廣泛的半自動和全自動探棒,對整個晶片進行半導體裝置量測。 或者,以互動方式控制探棒,測試個別裝置。 執行期間利用個別裝置結果和多重裝置統計資料監控測試進度。

US $16,200
配置和報價

從實驗室到晶圓廠的應用

以 ACS 為基礎的「整合測試系統」是完整的解決方案,適用於如參數晶粒分類、高功率半導體元件特性分析,及晶片位準可靠度測試等應用。當與合適的半自動與全自動探測站搭配時,其硬體組態與測試專案開發能夠針對特定的任務最佳化。

GaN HEMT I-V 特性分析的供電排序

GaN HEMT 具有「通常開啟」的特性,因此在 I-V 特性分析期間需要特定的供電順序。ACS 軟體支援裝置 GaN HEMT 特性分析的供電順序,擷取其固有的 I-V 特性時不會傷害裝置。

GaN HEMT 特性分析的供電順序應用注意事項

應用在整個半導體工作流程

ACS Basic Edition 與 ACS Standard Edition 軟體皆用於整個半導體工作流程中,以執行半導體裝置詳細特性分析的各種測試。ACS Basic 與 ACS Standard 整合式系統提供:

  • 裝置、晶片與卡式位準的測試
  • 彈性的設定方式,以及可自訂的軟體與應用程式
  • 互動式且自動化的系統操作
  • GUI 與指令檔工具的強大組合可供開發測試模組之用

開發階段

ACS Basic Edition 軟體已針對元件和離散 (封裝) 半導體裝置的參數測試最佳化。此軟體具有以下重要功能,能夠提高研發技術人員與工程師的生產力:

  • 針對封裝的裝置 (MOSFET、BJT、IGBT、二極體、電阻等) 設計
  • 提供一組豐富的測試庫,可快速輕鬆地測試設定與執行,無須程式設計
  • 內建的資料分析工具,可快速分析參數資料
  • 支援 Keithley 的 2600B 系列 (非 2604B、2614B 或 2634B)、2400 系列、2651A 及 2657A 系列 SourceMeter SMU 儀器

整合階段

ACS Standard Edition 軟體用於半自動晶片測試的整合階段,包括穩健的程序開發與晶片位準可靠度 (WLR)。此軟體可用於 SMU 每個接腳系統位準測試。ACS WLR 軟體具有以下優點:

  • 全自動功能,可測試個別的晶片或整個卡位
  • 可彈性設定測試與進行平行測試的軟體
  • 可靠度測試模組 (RTM) 與 JEDEC 標準測試方法相容
  • 支援建立自訂的測試模組/程序

生產階段

ACS Standard Edition 軟體也用於完全整合及自動化的以機架為基礎參數測試儀,以用於製程控制監控 (PCM)、晶片驗收測試 (WAT) 及晶粒分類。許多內建在 ACS Standard 軟體的工具與功能可增強 自動裝置的特性分析:

  • 晶片位準與卡式位準自動化
  • 測試映射對映射裝置及對站點和子站點的測試
  • 互動式探測站控制模式
  • 單一或各個晶片 Keithley 資料檔案
配件 ACS-2600-RTM
產品規格表 說明
ACS 可靠度測試選項
產品規格表 配件 說明
檢視 產品規格表 ACS-2600-RTM ACS 可靠度測試選項
ACS Automated Characterization Suite Software

文件編號: 1KW-61545-0
Datasheet
ACS Basic Edition Semiconductor Parametric Test Software for Component and Discrete Devices

文件編號: 1KW-2996-2
Datasheet
ACS-2600-RTM Data Sheet
Datasheet
VDS Ramp and HTRB Reliability Testing of High Power Semiconductor Devices
應用摘要
Testing Power Semiconductor Devices with Keithley High Power System SourceMeter SMU Instruments
應用摘要
Testing High Power Semiconductor Devices from Inception to Market
小冊子
ACS Integrated Test System for Multi-Site Parallel Test
應用摘要
ACS Integrated Test System for Lab-Based Automation
應用摘要
Greater Reliability Testing Confidence from Lab to Fab - Wafer Level Reliability Test Solutions
Keithley Instruments has long been an industry leader in both overall parametric test technology and wafer level reliability (WLR) testing. Several generations of Keithley’s parametric test solutions have offered WLR test algorithm libraries as …
海報
Cost Effective Semiconductor Lab Automation
技術文章
Evolving Semiconductor Characterization and Parametric Test Solutions for the Evolving Semiconductor Industry (also Applicable to Series 2600B)
白皮書
Power Sequence for GaN HEMT Characterization

文件編號: 1KW-61637-0
應用摘要