吉時利超低電阻配置系列 6200/2182A

連接時,機型 2182A 和機型 6220 或 6221 可以如單一儀器般操作。2182A/622X 結合非常適合於電阻量測、脈衝 I-V 量測,以及差動電導量測,因此其比其他解決方案提供更為明顯的優勢。2182A/622X 結合也非常適合於多種奈米技術應用,因為它無需損耗待測試中裝置 (DUT) 中的大量功率就可以量測電阻,而其他方式可能會產生無效結果,甚至破壞 DUT。

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基本價格
US $8,390 - US $9,900
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Keithley Ultra-Low Resistance Configurations Series 6200/2182A

功能

優點

量測從 10nΩ 到 100MΩ 的電阻 涵蓋超大的量測範圍,並專精於超低電阻量測,以對高導電材料、奈米材料和超導材料進行特性分析。
同步的電流脈衝輸出和量測時間,短至 50μs 在如奈米裝置和奈米材料的組件中限制功率損耗,因為除非在極低功率位準中測試這些組件,否則很容易就破壞它們。
差值模式電流反向、電阻量測技術 透過消除熱偏移的效應進行精確的超低電阻量測,以及將某個讀數的雜訊減少至 30nV p-p 雜訊 (典型值)。可以平均多個讀數,以減少更多雜訊。
差動電導量測 比其他電導量測技術提供更快十倍的速度,以及更低的雜訊。無需平均多個掃描的結果,即可進行很好的量測。
奈伏電壓錶和電流輸出介面可完美地搭配使用 進行差動電導和電阻量測時,這兩種儀器有如單一儀器般操作。
差值、差動電導和脈波模式可產生最低的電流暫態 可讓您對輕易被電流突波中斷之裝置進行特色分析。
機型 電阻 訊號源 PC 介面 參考價格
6220/2182A

10nΩ - 100MΩ

直流:±10fA – 100mA RS-232、GPIB US $8,390
配置和報價
6221/2182A

10nΩ - 100MΩ

直流:±10fA – 100mA
交流:4pAp-p – 200mAp-p

RS-232、GPIB、LAN US $9,900
配置和報價
機型 電阻 訊號源 PC 介面 參考價格
6220/2182A

10nΩ - 100MΩ

直流:±10fA – 100mA RS-232、GPIB US $8,390
配置和報價
6221/2182A

10nΩ - 100MΩ

直流:±10fA – 100mA
交流:4pAp-p – 200mAp-p

RS-232、GPIB、LAN US $9,900
配置和報價
配件 7009-5
產品規格表 說明
5 呎遮蔽 RS-232 纜線
產品規格表 配件 說明
檢視 產品規格表 7009-5 5 呎遮蔽 RS-232 纜線
Model 2182A Nanovoltmeter
Datasheet
Model 4288-2 Dual Fixed Rack Mounting Kit
The Model 4288-2 Dual Fixed Rack Mounting Kit includes all of the hardware necessary for side-by-side rack mounting of two instruments, including Series 2000, 2182A, Series 2300, Series 2500, 2700, 2701, 6220, 6221, 6485, 6487, 6514, or 6517B.

文件編號: PA-290C
Datasheet
Keithley Instruments Safety Precautions
Safety Precautions PA

This document contains safety information for Keithley Instruments products.


零件編號: 071341102
使用者
An Improved Method for Differential Conductance Measurements
白皮書
SOLUTIONS FOR SCIENTIFIC AND ENGINEERING RESEARCH

文件編號: 55W_30503_2
小冊子
Characterizing Nanoscale Devices with Differential Conductive Measurements
技術文章
Applications Guide - Techniques for Multi-Channel Testing and Data Acquisition
規格摘要表
#2615 Determining Resistivity and Conductivity Type using a Four-Point Collinear Probe and the Model 6221 Current Source
應用摘要
Pulse Testing for Nanoscale Devices
技術文章
Problem: Noisy Readings in Low Resistance Measurements
技術文章
Problem: Reading Drift in Low Resistance Measurements
技術文章
Problem: Errors in Low Resistance Measurements
技術文章
New Instruments Can Lock Out Lock-ins
白皮書
New dG Measurement Methods Reveal Nanodevice Characteristics Faster, at Lower Cost
技術文章
Unraveling Fuel Cell Electrical Measurements
技術文章
Hall Effect Measurements in Materials Characterization
白皮書
AC Versus DC Measurement Methods for Low-power Nanotech and Other Sensitive Devices
技術文章
Achieving Accurate and Reliable Resistance Measurements in Low Power and Low Voltage Applications
白皮書
Keithley Pulse Solutions
小冊子
Keithley Instrumentation for Electrochemical Test Methods and Applications
This application note discusses a variety of electrochemical applications, including voltammetry, low and high resistivity measurements, battery test, potentiometry, electrodeposition, electrical device characterization, and other tests that involve …

文件編號: 1KW-60158-1
應用摘要
The Emerging Challenges of Nanotechnology Testing
技術文章
Low-Voltage Measurement Techniques
技術文章
Low Level Measurements Handbook - 7th Edition

文件編號: 1KW-1559-0
手冊
How can I measure current or voltage via LabView for Model 6517B?
This LabView VI allows you to choose: Function (Voltage or Current), NPLC, Counts, Range, Resolution Digits and Buffer Delay Time. The Program outputs the reading buffer data, standard deviation and RMS value. The data will also be saved to a file …
常見問答集 ID774036