吉時利 4200A-SCS 參數分析儀

吉時利 4200A-SCS 參數分析儀

使用 4200A-SCS 加速半導體裝置、材料和製程開發的研究、可靠性和故障分析研究。 最高效能參數分析儀,其可提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V),以及超快速脈衝 I-V 量測。

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直流電流-電壓
(I-V) 範圍

10 aA - 1A
0.2 µV - 210 V

電容-電壓
(C-V) 範圍

1 kHz - 10 MHz
± 30V 直流偏壓器

脈衝 I-V
範圍

±40 V (80 V p-p),±800 mA
200 MSa/秒,5 ns 取樣率

 

吉時利 4200A-SCS 參數分析儀

透過參數提供深入的洞察資訊,快速且清楚。

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聯繫您的大膽探索從未如此輕鬆。 4200A-SCS 參數分析儀可將特性複雜度和測試設定減少高達 50%,因而提供清楚、不妥協的量測和分析功能。 此外,業界首見的嵌入式量測專門知識可提供測試指引,並讓您對結果有無比信心。

特性

  • 內建英文、中文、日文和韓文的量測視訊
  • 使用數百個使用者可修改的應用測試立即開始您的測試
  • 自動化的即時參數擷取、資料蒐集、算術函數

量測。 切換。 重複。

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4200A-CVIV 多切換模組可自動切換 I-V 和 C-V 量測,不需重新架設纜線或提起適當的探棒頭。 不同於競爭產品,四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本機視覺化見解,可在發生非預期結果時進行快速測試設定和輕鬆的疑難排解。

特性

  • 將 C-V 量測移至任何裝置終端,不需重新架設纜線
  • 使用者可針對低電流功能進行配置
  • 個人化輸出通道的名稱
  • 檢視即時測試狀態

特性分析。 自訂。 最大化。

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簡言而之,4200A-SCS 是可完整自訂也可完全升級,因此您可以對半導體裝置、新材料、主動/被動元件、晶片位準可靠性、故障分析、電化學或幾乎任何類型的取樣執行特性分析和評估。

特性

  • NBTI/PBTI 測試
  • 隨機電報雜訊
  • 固定式記憶體裝置
  • 電壓穩定器應用測試

具備分析探棒和低溫控制器的整合解決方案。

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4200A-SCS 參數分析儀支援許多手動和半自動晶片探棒和低溫控制器,包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

特性

  • 「點按」測試順序
  • 「手動」探棒模式測試探棒功能
  • 假探棒模式可啟用除錯,而不會移除指令

 

半導體可靠度

執行複雜的可靠度測試,同時讓 4200A-SCS 處理複雜的編碼。 諸如「熱載波注入衰減 (HCI)」等所包含的專案讓您搶先開始使用裝置分析。

特性

  • 在一組測試中結合 DC I-V、C-V 及脈波量測
  • 已包含許多探測站及外部儀器的支援
  • 簡單易用的循環系統允許無須編碼即可重複量測

高阻抗應用解決方案的 C-V 量測

使用 Keithley 的自訂超低頻 C-V 技術來分析高電阻取樣的電容。 此技術的執行方式是僅使用電源量測單元 (SMU) 儀器,但也可與 4210-CVU 結合來執行更高的頻率量測。

特性

  • 頻率範圍 .01 至 10 Hz,靈敏度 1 pF 至 10 nF
  • 3 位半典型解析度,最小典型 10 fF

固定式記憶體

將您的新技術放入測試,並搭配完整的脈波 I-V 特性。 4200A-SCS 隨附 NVRAM 技術最新功能的支援和隨即執行測試,從浮接閘道快閃到 ReRAM 和 FeRAM。 電壓與電流中的雙來源及量測功能可同時允許暫態和 I-V 域特性。

VCSEL 測試

4200A-SCS 中的多重同時電源量測單元 (SMU) 儀器可簡化您的雷射二極體測試。 產生包含僅連接至單一盒的 LIV (光線強度-電流-電壓) 曲線。 進階探測站和切換支援表示您可以使用相同的儀器進行晶片上個別二極體或整個陣列的生產測試。 SMU 可針對各種連續波 (CW) VCSEL 應用解決方案配置為最高 21 W 功能。

奈米裝置特性

4200A-SCS 的整合式儀器功能可簡化開發奈米電子的量測需要,例如奈米碳管。 從預先配置的測試專案開始進行調查,並從這裡延伸您的工作。 SMU 的脈衝來源模式可協助降低過熱問題,可在幾秒內與低壓 C-V 和超快速脈衝 DC 量測結合。

材料的電阻率

使用 4200A-SCS 搭配整合式 SMU 可輕鬆使用四點共線性探棒或 van der Pauw 方法來量測電阻率。包含的測試會自動執行重複 van der Pauw 計算,為您節省寶貴的研究時間。10aA 的最大電流解析度和 >10­­­­16 OHM 的輸入阻抗能為您提供更精確且精準的結果。

MOSFET 特性

4200A-SCS 可以透過元件或晶片上測試保留 MOS 裝置的完整特性的必要儀器。 包含的測試和專案會解決 MOSCap 的二極體厚度、臨界值電壓、摻雜濃度、流動離子濃度等等。 這些測試全都可以從單一儀器盒觸碰按鈕來加以執行。

Data Sheet Module Description Configure and Quote
4200-BTI-A ULTRA FAST BTI PKG Configure & Quote
4200-PA REMOTE PREAMPLIFIER MODULE Configure & Quote
4200-SMU MEDIUM POWER SOURCE-MEASURE UNIT Configure & Quote
4200A-CVIV I-V/C-V MULTI-SWITCH MODULE Configure & Quote
4210-CVU CAPACITANCE-VOLTAGE UNIT Configure & Quote
4210-SMU HIGH POWER SOURCE-MEASURE UNIT Configure & Quote
4220-PGU HIGH VOLTAGE PULSE GENERATOR UNIT Configure & Quote
4225-PMU ULTRA-FAST PULSE MEASURE UNIT Configure & Quote
4225-RPM REMOTE PREAMPLIFIER/SWITCH MODULE Configure & Quote
4200-SMU-R FIELD REPLACEABLE MPSMU Configure & Quote
4210-SMU-R FIELD REPLACEABLE HPSMU Configure & Quote
標題類型日期
Using the 4200A-CVIV Multi-Switch to Make High Voltage and High Current C-V Measurements
This application note explains the implementation of the bias tee modes of the 4200A-CVIV to make high voltage C-V measurement. It assumes the reader is familiar with making C-V measurements with the Keithley 4200A-SCS using the CVIV.
Literature number: 1KW-61356-0
Application Note 17 Apr 2018
Switch Time between Pulse IV and CV measurements using the 4225-RPM.
The RPM eliminates the need to re-cable and increases switching speed between Pulsed IV and CV measurements.  However, we do not specify the switching time for the RPMs in the data sheets. A simple test using a MDO3102 yeided the below approximate switch…
FAQ ID: 469646 16 Apr 2018
Simplifying MOSFET and MOSCAP Device Characterization e-Guide
Answering Your Questions on Tools and TechniquesThis e-guide answers some common questions about making better semiconductor measurements, with a focus on DC I-V and capacitance-voltage (C-V) measurements. It also touches on more specific applications and how you can simplify making the measurements…
Literature number: 1KW-60780-1
Brochure 12 Apr 2018
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.4.1
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix company, at tek.com to upgrade the parameter analyzer.If installing on a personal…
Part number: 4200A-CLARIUS-V1.4.1
Application 28 Feb 2018
Model 4200A-SCS Clarius V1.4.1 Software Release Notes The Clarius+ software application suite is the software for the 4200A-SCS.…
Part number: 077132605
28 Feb 2018
Upgrade Your 4200-SCS System and Protect Your Investment
Upgrade your 4200-SCS Parameter Analyzer to the 4200A-SCS - the industry's highest performance analyzer - and accelerate I-V, C-V, and ultra-fast pulsed I-V testing of your complex devices for materials research, semiconductor device design, process…
Literature number: 1KW-60873-1
Fact Sheet 22 Feb 2018
Does the 4200A-SCS support ICCAP?
Although the 4200ICCAP-6.0 driver is obsolete, the 4200A is ICCAP supported through the KXCI software.  The 4200 drivers in the KXCI software come with ICCAP in them and all KXCI programs for the 4200 are compatible with the 4200A. Note: ICCAP only…
FAQ ID: 255351 09 Feb 2018
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.3

Part number: 4200A-CLARIUS-V1.3
Application 07 Feb 2018
Does Model 4200A-SCS support Model 590-CV meter like the Model 4200-SCS?
The Model 590-CV is a stand alone CV meter and can be controlled from either the 4200A-SCS and 4200-SCS using the KIXI (remote interface software).
FAQ ID: 249356 25 Jan 2018
Resettable fuse on the interlock circuit for model 4200A-SCS.
Yes, there is a resettable fuse. It takes several minutes to reset, please give it some time.This is discussed on page 4 and 5 of the included application note. Here is a link to the application note on the Tek website: https://www.tek.com/document/…
FAQ ID: 248681 22 Jan 2018
下載
下載

下載手冊、產品規格表、軟體等等:

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