吉時利 4200A-SCS 參數分析儀

吉時利 4200A-SCS 參數分析儀

使用 4200A-SCS 加速半導體裝置、材料和製程開發的研究、可靠性和故障分析研究。 最高效能參數分析儀,其可提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V),以及超快速脈衝 I-V 量測。

在您的個人電腦上免費試用

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直流電流-電壓
(I-V) 範圍

10 aA - 1A
0.2 µV – 210 V

電容-電壓
(C-V) 範圍

1 kHz - 10 MHz
± 30V 直流偏壓器

脈衝 I-V
範圍

±40 V (80 V p-p),±800 mA
200 MSa/秒,5 ns 取樣率

 

吉時利 4200A-SCS 參數分析儀

透過參數提供深入的洞察資訊,快速且清楚。

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聯繫您的大膽探索從未如此輕鬆。 4200A-SCS 參數分析儀可將特性複雜度和測試設定減少高達 50%,因而提供清楚、不妥協的量測和分析功能。 此外,業界首見的嵌入式量測專門知識可提供測試指引,並讓您對結果有無比信心。

特性

  • 內建英文、中文、日文和韓文的量測視訊
  • 使用數百個使用者可修改的應用測試立即開始您的測試
  • 自動化的即時參數擷取、資料蒐集、算術函數

量測。 切換。 重複。

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4200A-CVIV 多切換模組可自動切換 I-V 和 C-V 量測,不需重新架設纜線或提起適當的探棒頭。 不同於競爭產品,四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本機視覺化見解,可在發生非預期結果時進行快速測試設定和輕鬆的疑難排解。

特性

  • 將 C-V 量測移至任何裝置終端,不需重新架設纜線
  • 使用者可針對低電流功能進行配置
  • 個人化輸出通道的名稱
  • 檢視即時測試狀態

特性分析。 自訂。 最大化。

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簡言而之,4200A-SCS 是可完整自訂也可完全升級,因此您可以對半導體裝置、新材料、主動/被動元件、晶片位準可靠性、故障分析、電化學或幾乎任何類型的取樣執行特性分析和評估。

特性

  • NBTI/PBTI 測試
  • 隨機電報雜訊
  • 固定式記憶體裝置
  • 電壓穩定器應用測試

具備分析探棒和低溫控制器的整合解決方案。

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4200A-SCS 參數分析儀支援許多手動和半自動晶片探棒和低溫控制器,包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

特性

  • 「點按」測試順序
  • 「手動」探棒模式測試探棒功能
  • 假探棒模式可啟用除錯,而不會移除指令

減少成本並保護投資

Keithley Care 方案只要按需求服務的一小部分成本,就可以提供快速、高品質的服務。 只要點選一下或一通電話即可取得維修涵蓋範圍 – 免報價單、採購單或核准造成的延遲。

深入瞭解

產品規格表 機型 說明 定價
檢視產品規格表 4200A-SCS-PK1
高解析度 IV
210V/100mA,0.1 fA 解析度
若為兩個和三個終端裝置 (MOSFET),CMOS 特性套件 4200A-SCS-PK1 包括:
  • 4200A-SCS 參數分析儀
  • (2) 4200-SMU 模組
  • (1) 4200-PA 前置放大器
  • (1) 8101-PIV 測試治具 (具備取樣裝置)
索取報價
檢視產品規格表 4200A-SCS-PK2
高解析度 IV 與 CV
210V/100mA,0.1 fA 解析度,1kHz - 10MHz
若為高 κ 電介質、深度次微米,CMOS 特性套件 4200A-SCS-PK2 包括:
  • 4200A-SCS 參數分析儀
  • (2) 4200-SMU 模組
  • (1) 4200-PA 前置放大器
  • (1) 4210-CVU 電容-電壓模組
  • (1) 8101-PIV 測試治具 (具備取樣裝置)
索取報價
檢視產品規格表 4200A-SCS-PK3
高解析度及電源 IV 與 CV
210V/1A,0.1 fA 解析度,1kHz - 10MHz
若為電源裝置,高 κ 電介質、深度次微米,CMOS 裝置特性套件 4200A-SCS-PK3 包括:
  • 4200A-SCS 參數分析儀
  • (2) 4200-SMU 模組
  • (2) 4210-SMU
  • (1) 4200-PA 前置放大器
  • (1) 4210-CVU 電容-電壓模組
  • (1) 8101-PIV 測試治具 (具備取樣裝置)
索取報價
檢視產品規格表 4200-BTI-A
超快速 NBTI/PBTI
若為有關尖端矽晶片的先進 NBTI 和 PBTI 量測,CMOS 技術套件 4200-BTI-A 包括:
  • (1) 4225-PMU 超快速 I-V 模組
  • (2) 4225-RPM 遠端前置放大器/切換模組
  • 自動化特性分析套件 (ACS) 軟體
  • 超快速 BTI 測試專案模組
  • 佈線
索取報價

半導體可靠度

執行複雜的可靠度測試,同時讓 4200A-SCS 處理複雜的編碼。 諸如「熱載波注入衰減 (HCI)」等所包含的專案讓您搶先開始使用裝置分析。

特性

  • 在一組測試中結合 DC I-V、C-V 及脈波量測
  • 已包含許多探測站及外部儀器的支援
  • 簡單易用的循環系統允許無須編碼即可重複量測

高阻抗應用解決方案的 C-V 量測

使用 Keithley 的自訂超低頻 C-V 技術來分析高電阻取樣的電容。 此技術的執行方式是僅使用電源量測單元 (SMU) 儀器,但也可與 4210-CVU 結合來執行更高的頻率量測。

特性

  • 頻率範圍 .01 至 10 Hz,靈敏度 1 pF 至 10 nF
  • 3 位半典型解析度,最小典型 10 fF

固定式記憶體

將您的新技術放入測試,並搭配完整的脈波 I-V 特性。 4200A-SCS 隨附 NVRAM 技術最新功能的支援和隨即執行測試,從浮接閘道快閃到 ReRAM 和 FeRAM。 電壓與電流中的雙來源及量測功能可同時允許暫態和 I-V 域特性。

VCSEL 測試

4200A-SCS 中的多重同時電源量測單元 (SMU) 儀器可簡化您的雷射二極體測試。 產生包含僅連接至單一盒的 LIV (光線強度-電流-電壓) 曲線。 進階探測站和切換支援表示您可以使用相同的儀器進行晶片上個別二極體或整個陣列的生產測試。 SMU 可針對各種連續波 (CW) VCSEL 應用解決方案配置為最高 21 W 功能。

奈米裝置特性

4200A-SCS 的整合式儀器功能可簡化開發奈米電子的量測需要,例如奈米碳管。 從預先配置的測試專案開始進行調查,並從這裡延伸您的工作。 SMU 的脈衝來源模式可協助降低過熱問題,可在幾秒內與低壓 C-V 和超快速脈衝 DC 量測結合。

材料的電阻率

使用 4200A-SCS 搭配整合式 SMU 可輕鬆使用四點共線性探棒或 van der Pauw 方法來量測電阻率。包含的測試會自動執行重複 van der Pauw 計算,為您節省寶貴的研究時間。10aA 的最大電流解析度和 >10­­­­16 OHM 的輸入阻抗能為您提供更精確且精準的結果。

MOSFET 特性

4200A-SCS 可以透過元件或晶片上測試保留 MOS 裝置的完整特性的必要儀器。 包含的測試和專案會解決 MOSCap 的二極體厚度、臨界值電壓、摻雜濃度、流動離子濃度等等。 這些測試全都可以從單一儀器盒觸碰按鈕來加以執行。

產品規格表 模組 說明 配置與報價
4200-BTI-A 超快速 BTI 封包 配置與報價
4200-PA 遠端前置放大器模組 配置與報價
4200-SMU 中功率電源量測單元 配置與報價
4200A-CVIV I-V/C-V 多重切換模組 配置與報價
4210-CVU 電容-電壓單位 配置與報價
4210-SMU 高功率電源量測單元 配置與報價
4220-PGU 高壓脈衝波產生器單元 配置與報價
4225-PMU 超快速脈衝量測單元 配置與報價
4225-RPM 遠端前置放大器/切換模組 配置與報價
4200-SMU-R 可在現場替換的 MPSMU 配置與報價
4210-SMU-R 可在現場替換的 HPSMU 配置與報價
標題類型
4200A-SCS Parameter Analyzer Datasheet

Literature number: 1KW-60780-0
數據表 11 Nov 2018
TECHNIQUES FOR MEASURING RESISTIVITY FOR MATERIALS CHARACTERIZATION
4200A-SCS PARAMATER ANALYZER APPLICATIONS GUIDEThis Materials Characterization Applications Guide offers tips and techniques for choosing between the Four-Point Collinear Probe or van Der Pauw methods for your resistivity measurements based on the type, shape, and thickness of your material and the…
Literature number: 1KW-60826-0
應用摘要 10 Nov 2018
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.5
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix company, at tek.com to upgrade the parameter analyzer.If installing on a personal…
Part number: 4200A-CLARIUS-V1.5
Application
4200-SCS KTEI V9.1 Service Pack 2

Part number: 4200-KTEI-V9.1SP2
Application
4200A-SCS Parameter Analyzer Datasheet

Literature number: 1KW-60780-4
數據表
Using the Ramp Rate Method for Making Quasistatic C-V Measurements with the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note describes how to implement and optimize quasistatic C-V measurements using the 4200A-SCS and the ramp rate method.
Literature number: 1KW-60639-0
Application Note 10 Nov 2018
van der Pauw and Hall Voltage Measurements with the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note explains how to make resistivity measurements of semiconductor materials using the 4200A-SCS and the van der Pauw method.
Literature number: 1KW-60641-0
Application Note 10 Nov 2018
DC I-V and AC Impedance Testing of Organic FETs
This application note outlines how to optimize DC I-V and AC impedance measurements on OFETs using the 4200A-SCS Parameter Analyzer. Timing parameters, noise reduction, shielding, proper cabling, and other important measurement considerations for…
Literature number: 1KZ-61313-0
Application Note 10 Nov 2018
Model 4200A-SCS-PK2 Parameter Analyzer Quick Start Guide
The Quick Start Guide for the Keithley Instruments 4200A-SCS-PK2 provides unpacking and basic connection information. It also provides sample tests that you can use to familiarize yourself with the Parameter Analyzer.
Part number: 4200A-PK2-903-01A
Primary User
Model 4200A-SCS Clarius V1.4.1 Software Release Notes The Clarius+ software application suite is the software for the 4200A-SCS.…
Part number: 077132605
C‑V Characterization of MOS Capacitors Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note discusses how to use a Keithley 4200A-SCS Parameter Analyzer equipped with the 4210-CVU Integrated C-V Option to make C‑V measurements on MOS capacitors. It also addresses the basic principlesof MOS caps, performing C‑V measurements…
Literature number: 1KW-60645-0
Application Note 10 Nov 2018
TECHNIQUES FOR MEASURING RESISTIVITY FOR MATERIALS CHARACTERIZATION
4200A-SCS PARAMATER ANALYZER APPLICATIONS GUIDEThis Materials Characterization Applications Guide offers tips and techniques for choosing between the Four-Point Collinear Probe or van Der Pauw methods for your resistivity measurements based on the type, shape, and thickness of your material and the…
Literature number: 1KW-60826-0
Application Note 10 Nov 2018
Model 4200A-SCS Semiconductor Characterization System Quick Start Guide
Brief introduction to the Keithley Instruments 4200A-SCS Parameter Analyzer, including unpacking and initial connection information.
Part number: 4200A-903-01A
Primary User
Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System Declassification and Security Instructions
If you have data security concerns, this document tells you how to clear or sanitize the Keithley Instruments Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System's memory devices. It also explains how to declassify an instrument that is not functioning.
Part number: 077134300
Declassification
Performing Very Low Frequency Capacitance-Voltage Measurements on High Impedance Devices Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note describes the VLF C-V technique, explains how to make connections to the device under test (DUT,) shows how to use the provided software, and describes optimizing VLF C-V measurements using the Keithley 4200A-SCS Parameter Analyzer.
Literature number: 1KW-60644-0
Application Note 10 Nov 2018
An Ultra-Fast Single Pulse (UFSP) Technique for Channel Effective Mobility Measurement
This application note describes a novel Ultra-Fast Single Pulse technique (UFSP) [4, 5] for accurate mobility evaluation, including the technique principle, how to connect the device, and how to use the Clarius software in the 4200A-SCS Parameter Analyzer…
Literature number: 1KW-60643-0
Application Note 10 Nov 2018
Optimizing Low Current Measurements with the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note describes Keithley’s best known methods and recommendations for optimizing low current measurements using the 4200A-SCS.
Literature number: 1KW-60636-0
Application Note 10 Nov 2018
下載
下載

下載手冊、產品規格表、軟體等等:

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