抖動量測和時序分析
瞭解由於現今的串列資料標準需要大量的抖動符合性測試，時序抖動已成為高速通訊系統設計中的強制性部分。 Tektronix 的綜合測試儀器組合可讓您符合設計目標和相容性需求 - 快速。
- 適用於即時示波器的 DPOJET 抖動和時序分析： DPOJET 可讓工程師進行除錯，並分析時序、抖動，和電腦中的雜訊、行動裝置，以及資料通訊系統設計的特性。
- TekScope Anywhere TM 波形分析 ：現在，使用者可彈性地在實驗室以外之處執行時序、眼圖和抖動分析，並輕鬆地在網路環境中與團隊成員進行分享。
- 適用於取樣示波器的 80SJNB 抖動、時序和 SDLA Visualizer 分析： 80SJNB 是一種全方位的工具，可讓工程師指定解除嵌入濾波器、時域波形或 S 參數以進行通道嵌入。80SJNB 也可執行時序、雜訊與遮罩測試分析，並取得眼圖效能的 3-D 檢視，對速度達 50GHz 以上的訊號進行深入、精確的評估。
- 適用於 BERTScope BSA 系列的 JMAP 抖動對應和分解分析 ：有別於傳統 BERT，BERTScope 利用獨特的 JMAP 分析將抖動分解為隨機和確定性分量，以便深入剖析長碼型的錯誤。
精選內容
資料庫
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| 對時序水平抖動的認識和鑒定 所有使用電壓轉換來顯示時序資訊的電系統，都會攜帶《時序水平抖動》這個不受歡迎的伴侶。本文主要討論電系統中的水平抖動。 |
| 使用 BERTScope® 誤碼率測試儀執行 6s 遮罩測試 使用 6s 以取得關鍵的見解。 |
| 雙 Dirac+ 示波器長條圖 BERTScan 量測 Dual-Dirac 的介紹。 |
| 使用 BER 式抖動量測評估應力分量 利用以 BER 為基礎的抖動峰值量測進行抖動量測自我確認。 |
| 2005 年 8 月 9 日於 T11.2 FC 發表的論文 - MSQS Ad Hoc Meeting：雜訊對誤碼率估計的影響 |
| 使用 BERTScope® 位元誤碼率測試比較抖動 DCD 和 F/2 抖動的比較。 |
| 縮小BER和眼狀圖之間的差距 - BER輪廓教程 介紹 BER 輪廓量測 |
| 眼狀圖剖析 描述眼狀圖，說明如何構造，以及產生眼狀圖的常見方法。 |
| 使用即時示波器分析鎖相環系統的特性 本摘要會介紹了鎖相環的運作原理，以及如何使用即時示波器來完成典型的 PLL 特性測試。 |
| 時脈恢復對測試和量測的影響 此應用摘要討論了外來影響會干擾資料之間的關係，以及如何計時。 |
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| Jitter Fundamentals | View this recorded webinar to get a solid overview of jitter components as well as jitter characterization and visualization. Learn how to control Jitter during system design and improve timing margins for today’s high-speed systems. |
| Enabling PAM4 for Emerging Requirements in Data Communications | |
| Advanced Jitter and Noise Analysis | new webinar that covers advances in the popular DPOJET timing & jitter analysis toolset |
| How to Address Your Toughest Serial Bus Design Challenges with EDA and Measurement Correlation | This Tektronix webinar will teach engineers how to use modeling tools to correlate simulations with high-speed physical layer measurements on Serial Bus Standards using the DPO/MSO70000 Series Oscilloscopes. |
| Choosing the Right Platform for Jitter Measurements | How to Choose the Right Platform for Jitter Measurements. |