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抖動量測和時序分析

瞭解由於現今的串列資料標準需要大量的抖動符合性測試,時序抖動已成為高速通訊系統設計中的強制性部分。 Tektronix 的綜合測試儀器組合可讓您符合設計目標和相容性需求 - 快速。

Title
對時序水平抖動的認識和鑒定
所有使用電壓轉換來顯示時序資訊的電系統,都會攜帶《時序水平抖動》這個不受歡迎的伴侶。本文主要討論電系統中的水平抖動。
壓力眼狀圖入門手冊
此入門手冊除簡介壓力眼狀圖測試外, 還探討某些使用的高速標準,以及接收器如何使用建構的壓力眼狀圖進行測試。
時脈還原入門,第 1 部分
從實用的角度來查看時脈還原,並強調其如何影響量測,第 1 部分。
時脈還原入門,第 2 部分
從實用的角度來查看時脈還原,並強調其如何影響量測,第 2 部分。
雙 Dirac+ 示波器長條圖 BERTScan 量測
此入門手冊探討 Dual-Dirac 與利用取樣示波器和以 BER 為基礎儀器進行的實際量測有何關聯。
The Basics of Serial Data Compliance and Validation Measurements
High-speed serial bus architectures are the new norm in today’s high-performance designs. While parallel bus standards are undergoing some changes, serial buses are established across multiple markets …
使用 BER 式抖動量測評估應力分量
此入門手冊探討如何利用以 BER 為基礎的抖動峰值量測進行抖動量測自我確認,以及如何使用不會產生碼型相依效應的碼型來簡化抖動量測的挑戰,最後會顯示不同應力減損如何促進總抖動 (TJ)。
Choose the Right Platform for Your Jitter Measurements
This document will explain some essential jitter terms, and then go on to discuss jitter measurements and the tools best suited for evaluating and quantifying jitter, when working with serial data …
DesignCon 2015 Paper - Statistical Principles and Trends in Mask Testing
This paper relates mask testing on these models with that ultimate figure of merit, the system BER as measured against a mask. It includes a new method that determines the BER of a mask from an eye …
2005 年 8 月 9 日於 T11.2 FC 發表的論文 - MSQS Ad Hoc Meeting:雜訊對誤碼率估計的影響
内容見附件
Tektronix 抖動量測2.0 版解決方案
抖動特性分析包含複雜的訊號分析,量測需求範圍從簡單到複雜、發送器之間的互通性,以及完整串列資料連結分析所需的通道結果。不管您的特定需求是什麼,Tektronix 都有辦法能夠快速有效地解決您設計上的挑戰。創新的量測解決方案,例如數位化示波器、邏輯分析儀、即時頻譜分析儀、時域反射儀、訊號產生器、高傳真探棒和分析軟體的出現,協助您解決抖動的問題。
使用相位參考模組 82A04 與 TDS/CSA8200 取樣示波器的超低抖動性能
使用 BERTScope® 誤碼率測試儀執行 6s 遮罩測試
6s 是一種遮罩測試,在遮罩測試的深度規格對通過/失敗測試非常重要時可提供關鍵的見解,或根據高速訊號標準提供更深入的評估,更全面地瞭解裝置效能。
使用即時示波器分析鎖相環系統的特性
鎖相環 (PLL) 常用於通訊應用。例如,他們從數位資料訊號 (CDR) 恢復時脈、從衛星傳輸訊號恢復載波、進行頻率和相位調變和解調,並為接收器調諧合成精確頻率。PLL 特性包括頻寬、雜訊、擷取範圍和速度、動態範圍、穩定性和準確度。介紹了鎖相環的運作原理後,本摘要會介紹如何使用在即時示波器上運行的 TDSJIT3 抖動和時序分析應用來完成典型的 PLL 特性測試。
時脈恢復對測試和量測的影響
隨著在多個系統和測試設定中時脈恢復變得越來越普遍,其對測量的影響必須考慮。許多外來影響會干擾資料之間的關係,以及如何計時。透過瞭解兩者之間的關係,即可實現更實用和準確的量測。
眼狀圖剖析
本應用摘要討論了不同的方式,細分來自眼狀圖的資訊,以獲得更深入的見解;其中還討論了發射器、通道和接收器進行測試的一些基本方法。
BERTScope® 誤碼率測試儀抖動地圖「深入瞭解相關知識」
以全新的方式深入研究抖動問題,如檢查每個資料碼型邊緣上的隨機抖動,分離出發射器預加重所造成的的抖動,並在長碼型 (如 PRBS-31) 上執行分解抖動。
縮小BER和眼狀圖之間的差距 - BER輪廓教程
BER 輪廓量測 - 這是什麼、如何構造,以及為何是以 GB 速度檢視參數效能的重要方式。
使用 Tektronix 即時頻譜分析儀分析鎖相環的特性
本應用摘要介紹了使用 Tektronix 即時頻譜分析儀同時量測在時域和頻域中的線性和非線性效應。
抖動容許度與抖動轉移測試用的受控抖動生成
本摘要探討如何産生受控抖動(及如何不産生受控抖動)。還介紹一些實用抖動來源的範例,例如抖動容忍度測試、抖動轉移測試、測試儀器相關性。這個狀況下還會說明在各種情況下,有哪些需要特別注意的抖動産生狀況。
使用 BERTScope® 位元誤碼率測試比較抖動
DCD 和 F/2 抖動的比較。
Title
Advanced Jitter and Noise Analysis
 As serial data speeds increase, the need to perform accurate timing and jitter measurements is key to staying current in your design role. Check out this new webinar that covers advances in the …
Jitter Fundamentals
View this recorded webinar to get a solid overview of jitter components as well as jitter characterization and visualization. Learn how to control Jitter during system design and improve timing …
Enabling PAM4 for Emerging Requirements in Data Communications
This webinar presents measurement techniques for PAM4 Data Communications and is useful for engineers involved in designing and developing 28G, 56G or 100G components, modules and systems. Find out …
How to Address Your Toughest Serial Bus Design Challenges with EDA and Measurement Correlation
This Tektronix webinar will teach engineers how to use modeling tools to correlate simulations with high-speed physical layer measurements on Serial Bus Standards using the DPO/MSO70000 Series …
Choosing the Right Platform for Jitter Measurements