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TDR 및 임의파형발생기를 이용한 고속 시리얼 인터페이스 신호 무결성 검증

신호 무결성(Signal Integrity)은 아나로그 영역에서 신호를 손상시킬 수 있는 노이즈, 왜곡 및 변형에 관계된 것이며 High Speed Serial 데이터 전송에서는 다양한 변수가 신호 무결성에 영향을 미칠 수 있습니다. 신호 경로 설계, 임피던스 및 부하, 전송 라인 효과 등에 의해 발생되는 신호 왜곡 특성은 회로 설계 및 검증 엔지니어게 큰 부담이 되고 있으며, 제품의 정상적인 동작을 보장하기 위해 반드시 설계 단계에서부터 검증되어야 합니다.

시스템 설계 단계에서는 TDR(Time Domain Reflectometry)을 이용한 신호 무결성 검증 및 Connect 툴을 이용한 S-parameter/회로 모델 추출이 가능합니다. 또한 완성된 시스템을 검증하기 위해서는 실제 동작 환경에서 발생할 수 있는 모든 스트레스 신호를 발생시킬 수 있는 임의파형 발생기(AWG7000)가 필요합니다.

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