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記憶體設計 (DDR4/LPDDR/SATA Express/UHS-I/II) 的驗證和除錯技術


LPDDR3和DDR4的電氣驗證測試和除錯出現新的挑戰,超越過渡DRAM架構測試中所發現的問題。瞭解如Visual Triggering這類新工具可以協助除錯複雜的設計,並提供深入分析這類問題的能力。DDR4帶來了僅在1.2V運行時高達3200MT/s的高資料傳輸速率,這是一項新的量測挑戰,緊密的DIMM提供存取訊號的挑戰。瞭解更多有關量測的方法和途徑,以解決獨特的LPDDR3挑戰:在LPDDR3實作的高密度電路板配置中存取和探測訊號,並在突發LPDDR3上進行觸發,以有效除錯和測試配置。