使用 AWG 和直接合成技術克服高速串列 DataRX 測試挑戰應用摘要

基於今日各種消費性產品中常見的數位資料，在設計與測試這些熱門裝置時，高速串列資料測試是最大的挑戰之一。製造商與設計人員必須測試產品與設計，確保最終的產品能夠應付真實世界的狀況。本應用摘要著重討論 DisplayPort，但其中技術仍適用於 PCI Express、SATA 和 HDMI 等許多其他標準。