TW
目前地點
×
TW

選取下面的區域以變更地點:

切換功能表
TW
目前地點
×
TW

選取下面的區域以變更地點:

與我們聯絡

與 Tek 業務代表即時對談。 上班時間:上午 6:00 - 下午 4:30 (太平洋時間)

致電

請致電 1-800-833-9200

與 Tek 業務代表即時對談。 上班時間:上午 8:30 - 下午 5:30 (太平洋時間)

下載

下載手冊、產品規格表、軟體等等:

下載類型
機型或關鍵字

Automating High and Low Frequency C-V Measurements and Interface Trap Density (DIT) Calculations of MOS Capacitors Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer

This application note discusses how to use the 4200A-SCS Parameter Analyzer to measure and to automatically switch between high and low frequency C-V measurements on MOS capacitors. Basic information on MOS capacitors and common parameter extractions is also discussed.