串列資料符合性測試與分析軟體

TDSRT-Eye™ v2.0

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功能與特色

  • 按下按鈕, MyTest 立即提供測試結果
  • 串列資料精靈提供簡易設定
  • 電氣標準的即時擷取與分析速度最高達10 Gb/s (TDS6154C)
  • 取得專利的即時眼狀圖時脈回復及描繪眼狀圖可提供:
    • 高精確度的眼狀圖與準確的抖動量測
    • 標準專用時脈回復
    • 暫態/非暫態位元眼狀圖及解加強 (de-emphasis) 量測
    • 累積眼狀圖波形資料庫
  • SmartGating 彈性設定時脈回復 與視窗化測試
  • 振幅、時序, 及 抖動測量 (包括重複與任意波形隨機抖動、定量抖動, 和總抖動之位元錯誤率 @ 10-12 BER)
  • 誤碼率設定, 標示出Mask的錯誤位元
  • 自動進行波形遮罩通過/失敗與量測限制的測試
  • 彈性繪圖與輸出工具, 供串列資料進階分析
  • 多格子線繪圖視窗, 提供眼狀圖、直方圖、頻譜圖、浴盆曲線圖分析
  • 符合性分析模組 (選配), 提供「插拔」測試
    • 提供: PCI Express (選配: PCE), InfiniBand (選配: IBA); SATA 與 SAS 分析模組 (選配: SST), FB-DIMM (選配. FBD)
    • 其他標準: 研發中
  • 產生自訂與標準專用報告
  • 透過 OpenChoice®軟體 (GPIB 與LAN), 提供自動測試的程式介面

應用

新興串列資料標準的類比驗證與符合性測試包括
  • PCI Express
  • FB-DIMM
  • InfiniBand
  • Serial ATA
  • Serial Attached SCSI (SAS)
  • Fibre Channel
  • 10 GbE XAUI
  • 10 GbFC XAUI
  • IEEE 1394b
  • RapidIO

新興串列資料標準的正確、簡易、客製化實體層測試最高速度可達10 Gb/s

當依據產業標準設計時, 為了確保裝置的互通性, 進行類比驗證與符合性測試是很重要的. TDSRT-Eye™ v2.0串列資料符合性測試與分析軟體 (選配: RTE) 搭配高效能示波器系列 TDS/CSA 7000/B 、TDS6000 與正確的探測方法, 能提供串列資料匯流排類比驗證與符合性測試的完整解決方案.

RT-Eye v2.0 時脈回復與眼狀透視圖

建立資料眼狀圖並執行正確的抖動測量分析之第一步驟是回復串流位元時脈. RT-Eye v2.0 眼狀透視圖技術, 提供使用者可選擇的演算法 (例如, 相位閉鎖迴路或固定時脈) 來回復時脈. 這項技術的優點如下:

高精確度的眼狀圖 - 由於是從單一觸發事件擷取波形, 而且經由軟體回復時脈, 相較於以時脈回復技術的等時 (ET) 硬體, 本方法提供更低的抖動雜訊基準 (JNF).

標準專用時脈回復 - 相位閉鎖迴路時脈回復是許多資料通訊標準中最常用的技術, 但是有些標準, 例如PCI Express需要支援許多接收器時脈回復技術, 例如相位內插法與超高取樣法. 使用軟體時脈回復技術, 提供你選擇最適用於您裝置的時脈回復方法. 另外, 使用 SmartGating 功能, 能提供使用者定義所擷取的「時脈回復視窗」與其他「分析視窗」 (定義回復視窗之量測內容).

轉態位元與非轉態位元的區分與解加強 (De-emphasis) 測量 - 即時擷取提供區分轉態位元及延伸位元的能力, 適用於系統佈署解加強 (主動均衡測量, 也就是預加強或均衡測量) 的遮罩測試和量測. 可分別在加強的位元和非加強的位元進行振幅量測, 並且顯示解加強測量比值.

累積波形資料庫眼狀圖 - 累積波形資料庫提供 3D 空間眼狀圖. 如果設定自由操作模式時, 則將顯示累積時間對應之眼狀圖, 非常類似於傳統等時圖形顯示.

波形眼狀圖與抖動量測密不可分

過去, 至少需使用 2 個 (有時甚至 3 個儀器) 進行波形遮罩測試與抖動量測. 使用串列等時取樣示波器, 或即時示波器設定隨機等時模式, 觀察波形眼狀圖. 必須使用位元錯誤偵測儀器或時序間隔分析儀, 測量總抖動. TDSRT-Eye v2.0分析軟體使用專利技術, 將即時示波器所擷取的串流資料抖動組成 (包括隨機抖動、定量抖動、總抖動之位元誤碼率 @10-12 BER) 進行區分, 不論訊號是重複或任意波形. T11.2 MJSQ 認可的這項技術為使用其他專用設備的替代方案. 最近, 電腦業的標準, 例如 PCI Express 與串列 ATA , 規定必須依據特定數目連續位元進行抖動量測, 這項規定僅適用於即時示波器技術. 不論需要何種抖動量測, TDSRT-Eye v2.0分析軟體從擷取單一即時波形, 執行眼狀圖與各種產業專用的抖動量測. 其他方面的信心則來自隨多樣擷取所累積的統計資料, 這讓您可使用單一高效能即時示波器來進行設計、除錯、驗證, 和串列資料的符合性測試.

簡單參數限制模組

利用定義限制檔案與使用者遮罩檔案的符合性測試, 進行遮罩測試和抖動量測. 限制檔案可允許您選擇需要的通過/失敗符合性測試量測, 您可使用使用者遮罩檔案和限制檔案編輯及儲存遮罩的測試限制及量測結果.

標準專用符合性測試與分析模組

TDSRT-Eye v2.0分析軟體能夠設定選用的符合性測試與分析模組. 本模組提供符合產業主機「插拔」與工場的通過/失敗波形遮罩與量測限制測試, 符合性測試與分析模組目前包括:

PCI Express 符合性模組 - 同時訂購 PCI Express 符合性模組 (選配 PCI) 與 TDSRT-Eye v2.0 分析軟體時, 可提供電子符合性測試的完整解決方案. 本模組包括實體層量測, 定義於驅動器、附加卡、系統、接收器、與參考時脈測試點, 定義於 PCI Express 規格1.0a 和 1.1 版本 (基本規格與電力機械卡 (CEM) 規格). 「使用 SigTest 」功能除允許利用 PCI-SIG 的 SigTest 軟體執行輸入或自動設定外, 還提供 Gen2 (5.0 Gb/s) 基本測試.

FB-DIMM 符合性模組 - 同時訂購 FB-DIMM 符合性模組 (選配FBD)與 TDSRT-Eye v2.0 分析軟體時, 能提供電力符合性測試的完整解決方案. 本模組包括實體層量測, 定義於美國電子工程設計發展聯合協會(JEDEC) 高速點對點連接規範.

SATA and SAS 分析模組 - 同時訂購 SATA 與 SAS 分析模組 (選配SST) 與 TDSRT-Eye v2.0分析軟體時, 能提供電力符合性測試解決方案. 本模組包括實體層量測, 定義於串列 SATA 工作小組與 SAS T10委員會.

InfiniBand 符合性測試模組 - 同時訂購 InfiniBand 符合性測試模組(選配IBA) 與 TDSRT-Eye v2.0分析軟體時, 能提供電力符合性測試的完整解決方案. 本模組包括實體層量測, 定義第六章 InfiniBand 架構規格 (第1.1版) 叫出.

自訂與標準專用報告產生

不論您是否在設計驗證階段即開始編製分析報告, 還是將檔案先存檔以做為未來參考, TDSRT-Eye v2.0 分析軟體提供您標準符合性報告範本及允許自訂測試報告的報告產生器.

Characteristics

Bit Rates Supported - Minimum system (including probe) is defined by oscilloscope bandwidth (GHz)/1.5 Gbps for 3rd harmonic of fundamental signal frequency. Some standards require 5th harmonic. Consult industry working group for minimum oscilloscope bandwidth required for compliance.

MyTest - Combines saved setup, autoset, and run functions to provide results with a single button press.

Serial Data Wizard - Step-by-step for easy setup of Serial Analysis Module.

Measurements

Timing - Eye Width, Rise Time, Fall Time, Unit Interval, Bit Rate, Differential Skew.

Amplitude - Eye Height, Differential Voltage, High Amplitude, Low Amplitude, Common-mode DC Voltage, Common-mode AC Voltage, De-emphasis.

Jitter - Patented RJ/DF decomposition resolves jitter at BER (RJ, DJ, TJ, and Jitter Eye Opening for a specified Bit Error Ratio) for repeating or arbitrary patterns, Jitter TIE (Data Time Interval Error).

Reference Clock (Opt. PCE and FBD only) - Voltage (High, Low, Differential), Timing (Rising Edge, Falling Edge, Period, Duty Cycle), Jitter (Cycle-Cycle, Total).

Mask and Measurement Compliance Testing (Pass/Fail) - User-definable mask geometries (User Mask) and measurement limit definition (Limits File). Masks and Limits hardcoded in Compliance Modules.

Clock Recovery - Patented software PLL (fc/1667 or custom) – User-definable 1st order or 2nd order with damping factor, Mean, Median, Gated.

SmartGating with Scan - Provides up to two gated regions for clock recovery and measurement results. Gating Options - Cursors, Unit Intervals, Edges. Gated regions can be set up to scan a portion or all of the waveform.

Population Control - Halts measurement accumulation on a specified measurement population or number of acquisitions.

Plots - Define up to four plots on multiple graticules. Plots can be viewed on instrument display or second monitor. Supported Plot Types: Patented Real-time Eye Diagrams with and without mask (Transition Bit, Nontransition Bit, All Bits), Waveform (with Bit Error Locator), Histogram, Spectrum, Bathtub Curve.

Worst-case Waveform Logging - Provides capture of worst-case waveform for specified test condition.

Remote Control for Automation - The software can be controlled over GPIB or 100BaseT LAN connection. Windows and Unix remote operation is supported.

Online Help - Provides easy reference to standard test definitions.

Tektronix Oscilloscopes Supported

DPO/DSA70000, DPO7000, TDS6000/B/C, and TDS/CSA7000/B Series oscilloscopes (1.5 GHz models and above)

Minimum System Requirements (Legacy Products)

  • Windows 2K OS (order upgrade TDS7UP, CSA7UP, orTDS6UP Opt. W2K)
  • SDRAM (order upgrade 040-1682-xx, 256 MB DIMM module)
  • 850 MHz Processor (order upgrade TDS7UP, CSA7UP, orTDS6UP Opt. CPU)
  • 512 MB minimum RAM: 1 GB strongly recommended
  • Version 2.5.3 Firmware and above
Last Modified:
下載
下載

下載手冊、產品規格表、軟體等等:

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