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下一代數位介面標準 (串列、記憶體、顯示等) 衍生了對相容性和診斷工具的限制,進而產生高速 Tx 和 Rx 設計挑戰,包括:
    •  因裝置體積較小而造成的有限訊號存取
    •  具有新的節能方案的匯流排行為
    •  使用訊號介面驗證新的訊號編碼和均衡能力
    •  電子驗證測試太多,時間太少!

Tektronix 提供的自動量測套件可加速 PHY 驗證週期,並確保相容性。當相容性量測未通過時,可使用通訊協定解碼、視覺化觸發等工具來加速除錯。在來源中確定抖動和雜訊,如串擾或其他多通道雜訊耦合。

Tektronix 方案可協助您從容應對 USB、MIPI 和 DDR3 高速介面標準測試時面臨的設計挑戰。

超低雜訊、超高解析度、完美支援 MIPI/DDR/USB……

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