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PCI Express Motherboard

自動化測試與除錯

為了支援我們數據驅動世界的效能需求,高速數位標準正迅速發展。下一代的串列標準與數據通訊需求,帶來了新的測試挑戰,將現今的相容性和除錯工具推向極限。從設計和模擬、分析、除錯到相容性測試,Tektronix 提供自動化電子測試解決方案,能將效能最佳化、加快驗證週期,並加速產品上市時間。

以高效能運算標準進行準確且可重複的測試

在資料中心、人工智慧 (AI) 和高效能運算等資料密集型市場中,對於更高資料傳輸量和更大記憶體容量的需求持續增長。為因應更高的資料傳輸率,採用之設計也愈趨複雜,以突破訊號完整性既有的侷限,而針對此,有必要透過更高效能的量測,來滿足相容性、除錯以及驗證方面的相關需求。Tektronix 的自動化測試解決方案讓工程師能夠針對其最新設計進行準確、可重複的測試,有效因應相關挑戰。

PCI Express (PCIe) 和 CXL

記憶體 (DDR 和 LPDDR)

儲存裝置 (SAS 和 SATA)

PCIe Motherboard
Consumer Electronics

縮短測試時間的消費性技術

創新的步伐刺激了對於更新、更快的消費性裝置的需求。此發展進程所涉及的基礎標準,對於資料速率和設計複雜度有更高的需求,並且為測試帶來全新的挑戰。Tektronix 測試解決方案能進行準確、可重複的量測,且測試時間較短,以因應最新規格的相關合規需求。

顯示 (DisplayPort 和 HDMI)

MIPI (M-Phy、D-Phy、C-Phy 和 UFS)

USB

Thunderbolt

適用於乙太網路裝置設計的全方位工具

從超大規模資料中心和企業系統到汽車和工業應用,乙太網路針對各種使用情境需求提供網路連線能力。Tektronix 提供全方位的工具組,可讓您在些生態系統中,針對 IEEE 802.3 乙太網路裝置的實體層進行測試、開發和除錯。

乙太網路 (10M 至 400G 及以上)

Ethernet
Jitter

進階量測和分析工具

Tektronix 的 SDLA、PAMJET 和 DPOJET 軟體針對高速串列標準提供強大的訊號分析工具。無論是使用 PAMJET 分析最新的 PAM4 訊號、透過 SDLA 將波形去嵌化,還是使用 DPOJET 執行抖動/雜訊分析,Tektronix 都能提供您需要的工具。

抖動量測和時序分析 (DPOJet)

去嵌化和接收器等化 (SDLA)

PAM 訊號的電子和時序分析 (PAMJet)

資源

PCIe
Webinar

PCIe Gen6 PAM4 訊號傳送

略讀此篇有關 PCI Express Gen6 驗證要求的討論,為下一個 PCI Express 轉折點做好準備。我們檢閱新引入的發射器量測,包括 SNDR 和不相關的抖動,並使用真實的實驗室資料展示在 32GBaud PAM4 下進行接收器測試的壓力眼圖校正。
USB
Webinar

因應 USB4 相容性和特性分析測試挑戰

觀看我們的 USB4 相容性與特性分析測試網路研討會,瞭解如何應對 USB4 標準的相關量測挑戰。
LPDDR
Webinar

解決關鍵的 LPDDR5 DRAM 測試挑戰

解決關鍵的 LPDDR5 DRAM 測試挑戰,瞭解測試技巧和技術,以因應此行動記憶體標準帶來的設計挑戰。
Mobile Device Communication
應用摘要

自動化的 MIPI D-PHY 實體層相容性測試

概略瞭解 MIPI D-PHY 實體層和電子訊號傳送,包括關鍵測試以及對探測、治具和測試設定的討論。
Ethernet
Video

使用 Synopsys Transmitter PHY 進行 112 Gb/s 乙太網路示範

隨著即將導入的 802.3ck,電子特性分析的需求尤其增加。本示範重點介紹針對 53 GBd Synopsys® 112G PHY IP 發射器端對端特性分析所推出的新一代測試。
DDR
白皮書

DDR5 記憶體驗證與除錯

業界正在從 DDR4 轉換至下一代的 DDR 記憶體標準。DDR5 帶來全新挑戰,且必須在實作和驗證過程中有效因應。