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嵌入式設計技術,使您的控制參數最佳化


在最佳化控制功能的程序中,對微控制器韌體進行細微的調整可大幅改善嵌入式系統設計效能。產生正確的增益、偏移、延遲、磁滯數值與 PWM 參數,可能需要耗費許多時間,若使用正確的工具,即可加速流程。本應用摘要涵蓋三個實際應用,其中特定量測技術使用於微控制器架構系統,可迅速最佳化關鍵控制參數。