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頻譜設計與開發
Tektronix 提供射頻實體層 (PHY) 測試解決方案以協助您完成工作,並縮短設計上市時間。
探索即時頻譜分析儀如何運作,以及如何搭配我們的入門手冊以用於解決許多射頻擷取和量測問題。 探索下方我們的技術文件資料庫和海報,以瞭解哪些解決方案可協助您初次進行驗證、偵錯及通過效能或相容性測試。
精選內容
建議的設備
AWG5200 任意波形產生器
AWG5200 提供無可匹敵的訊號保真度,加上同級最佳取樣率和記憶體深度,為您提供複雜射頻基頻訊號產生和精確實驗應用的業界最佳訊號解決方案。 透過高達 10 GS/s 的取樣率和 16 位元的垂直解析度,輕鬆產生複雜訊號並精確播放現有的擷取訊號。
RSA600
無論實驗室桌面或是機架上都能完全適用,RSA600 能輕易整合晶片/模組和 EMI 測試,並提供最高 7.5 GHz 的速度、40 MHz 的頻寬和優異的無寄生訊號動態範圍,以及可選的內部追蹤產生器。
RSA5000 系列
此中階即時頻譜分析儀結合優異的射頻效能 (頻寬最高 165 MHz) 與第 4 代 DPX® 技術。 可對無線晶片、模組和裝置進行檢測、分析和除錯,即使是持續時間僅有 434 ns 的訊號,也具有 100% 的攔截率。
TTR500 向量網路分析儀
Tektronix TTR500 系列雙連接埠、雙路徑向量網路分析儀是我們的最新突破,以低於領先桌上型替代方案 40% 的價格,提供量測效能和便利性的無可比擬組合!透過您預期 Tektronix 所提供的準確度和信任度進行日常量測,而無需超過預算。