例如 SiC 和 GaN 等全新的半導體材料,通常會在開發期間引入獨特的挑戰。

  • DC 半導體特性分析需要全面性的 I-V、C-V 和快速脈波量測。
  • 高功率半導體裝置的測試會帶動高電壓及功率位準、較快切換時間、較高峰值電流以及較低漏電量的需求。
  • 半導體生產環境需要自動化、探棒台整合、晶粒分類的速度和傳輸率、晶圓接受和可靠度測試。

高速數位介面使得對 PHY 驗證週期的速度需求更加迫切。更快的除錯、通訊協定解碼,以及從像是串流音等訊號源識別抖動和雜訊,都是設計者的重要需求。

備有多種電子驗證測試方法,為您省下更多時間!

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